（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201810260752.X （22）申请日 2018.03.27
（71）申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
地址 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号
（10）申请公布号 CN108763011A
（43）申请公布日 2018.11.06
（72）发明人 罗宏伟;罗军;王小强;唐锐;李军求
（74）专利代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 陈金普
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
SoC芯片核数检测方法、装置、系统及存储介质
（57）摘要
本发明提供一种SoC芯片核数检测方法、
装置、系统及存储介质，上述SoC芯片核数检测方法包括步骤：获取SoC芯片上各预设扫描点的频谱信息。根据各预设扫描点的频谱信息和各预设扫描点的位置信息生成电磁辐射图像。识别电磁辐射图像中的处理核心，得到核数检测数据。上述SoC芯片核数检测方法不再需要进行SoC芯片端检测程序的开发，提高了检测效率，缩短了
检测周期。而且，对于不同框架的SoC芯片具有通用性，也可以降低检测成本。
法律状态
法律状态公告日
2018-11-06 2018-11-06 2018-11-06 2018-11-30 2018-11-30 2020-05-12
法律状态信息
公开 公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 著录事项变更
法律状态
公开 公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 著录事项变更
权利要求说明书
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SoC芯片核数检测方法、装置、系统及存储介质
