X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究

X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究

潘宁宁;王占山;顾春时;秦树基;陈玲燕

【期刊名称】《强激光与粒子束》 【年(卷),期】2006(018)001

【摘要】对惯性约束聚变的一种重要诊断方法--Kirkpatrick-Baez型结构显微镜成像方法进行了研究.计算了Kirkpatrick-Baez型结构显微镜的主要像差,并分析得出:造成轴上点像差的主要因素是球差,占像差的94%.基于光线追迹方法模拟出这种结构的成像过程,比较了不同反射镜长随视场变化对物面分辨率的影响,发现为了保证物面的空间分辨率能达到ICF研究要求视场应尽量控制在200 μm以内.最终得出能量在8 keV、视场为200 μm,分辨率小于10 μm的Kirkpatrick-Baez型结构的模型.提出在装调过程中重要公差计算方法,得到数值孔径为0.003 7时,角度装调公差应在-0.087°～0.067°范围内. 【总页数】5页(61-65)

【关键词】掠入射成像系统;X射线;光线追迹;空间分辨率;角度公差 【作者】潘宁宁;王占山;顾春时;秦树基;陈玲燕

【作者单位】同济大学,物理系,上海,200092;同济大学,物理系,上海,200092;同济大学,物理系,上海,200092;同济大学,物理系,上海,200092;同济大学,物理系,上海,200092 【正文语种】中文 【中图分类】TL651 【相关文献】

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