ICP-AES法检测银合金电触头中稀土元素

ICP-AES法检测银合金电触头中稀土元素*

张小琴

【摘 要】介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法测定银合金电触头中低含量稀土元素的检测方法。采用无机酸分解样品，利用电感耦合等离子体原子发射光谱法检测银合金中稀土元素含量，分析了干扰因素，确定了最佳溶样方法和最佳测定条件。实验结果表明本方法对银合金中稀土元素的测定准确度高、回收率及精密度满意，可以很好的满足实际分析要求。 【期刊名称】广州化工 【年(卷),期】2024(047)006 【总页数】3

【关键词】电触头；稀土元素；检测；电感耦合等离子体原子发射光谱 *基金项目：广东省科学院科研平台建设专项资助项目(2024GDASCX-0114)。 银合金是目前小容量低压电器中最普遍使用的电触头材料之一。例如自控开关、热继电器喧时器、调节器、恒温器、烘烤机、烘炉计时器、计算机等。传统银基电触头材料存在强度低、机械磨损率高、耐电弧烧损能力差等缺陷，采用合金化方法提高触头材料综合性能已成为研究新型电触头材料的重要途径。银合金主成分通常包括AgCu合金、AgCd合金、AgNi合金、AgSn合金、Ag-石墨合金Ag-碳化钨合金等。银合金中添加适量稀土元素可能明显改善机体金属的综合性能指标，其在银合金中的作用[4]主要有：(1)细化晶粒；(2)提高合金的强度和热稳定性；(3)提高再结晶温度；(4)净化作用，稀土元素易于银中的O、S、Pb、Bi结合形成难熔的化合物，与熔渣一起析出，从而达到净化的作用；(5)提高耐磨性及抗熔焊性；(6)提高合金电导率等。