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习题:第一章 第二章 第三章 第四章 第五章 第六章 第七章 第八章 第九章 第十章 第 十一章答案:第一章 第二章 第三章 第四章 第五章 第六章 第七章 第八章 第九章 第 十章第十一章

3-2 略。

3-2试述位错的基本类型及其特点。

解:位错主要有两种:刃型位错和螺型位错。刃型位错特点:滑移方向与位错线垂直,符号丄, 有多余半片原子面。螺型位错特点:滑移方向与位错线平行,与位错线垂直的面不是平面,呈螺施状, 称螺型位错。

3-3非化学计量化合物有何特点?为什么非化学计量化合物都是n型或p型半导体材料?

解:非化学计量化合物的特点:非化学计量化合物产生及缺陷浓度与气氛性质、压力有关;可以 看作是高价化合物与低价化合物的固溶体;缺陷浓度与温度有关,这点可以从平衡常数看出;非化学 计量化合物都是半导体。由于负离子缺位和间隙正离子使金属离子过剩产生金属离子过剩(n型)半 导体,正离子缺位和间隙负离子使负离子过剩产生负离子过剩(P型)半导体。

3-4影响置换型固溶体和间隙型固溶体形成的因素有哪些?

解:影响形成置换型固溶体影响因素:(1)离子尺寸:15%规律:1. (Ri-R? /Rl>15%不连续。 2. <15%连续。3. >40%不能形成固熔体。(2)离子价:电价相同,形成连续固熔体。(3)晶体结构 因素:基质,杂质结构相同,形成连续固熔体。(4)场强因素。(5)电负性:差值小,形成固熔体。 差值大形成化合物。

影响形成间隙型固溶体影响因素:(1)杂质质点大小:即添加的原子愈小,易形成固溶体,反 之亦然。(2)晶体(基质)结构:离子尺寸是与晶体结构的关系密切相关的,在一定程度上来说, 结构中间隙的大小起了决定性的作用。一般晶体中空隙愈大,结构愈疏松,易形成固溶体。(3)电 价因素:外来杂质原子进人间隙时,必然引起晶体结构中电价的不平衡,这时可以通过生成空位,产 生部分取代或离子的价态变化来保持电价平衡。

3-5试分析形成固溶体后对晶体性质的影响。

解:影响有:(1)稳定晶格,阻止某些晶型转变的发生;(2)活化晶格,形成固溶体后,晶格 结构有一定畸变,处于高能量的活化状态,有利于进行化学反应;(3)固溶强化,溶质原子的溶入, 使固溶体的强度、硬度升高;(4)形成固溶体后对材料物理性质的影响:固溶体的电学、热学、磁 学等物理性质也随成分而连续变化,但一般都不是线性关系。固溶体的强度与硬度往往高于各组元, 而塑性则较低, 3—6 说明下列符号的含乂: VN?, VM' , Vci ' , (VNB1 VCI ' ) , Cat. ' , Cam, Ca > '

解:钠原子空位;钠离子空位,带一个单位负电荷;氯离子空位,带一个单位正电荷;最邻近的 N£空位、C「空位形成的缔合中心;Ca\占据K.位置,带一个单位正电荷;Ca原子位于Ca原子位置上; Ca\处于晶格间隙位置。

3-7写出下列缺陷反应式:(1) NaCl溶入CaCh中形成空位型固溶体;(2) CaCh溶入NaCl中 形成空位型固溶体;(3) NaCl形成肖特基缺陷;(4) Agl形成弗伦克尔缺陷(Ag*进入间隙)。

解: (1)

(2) (3) (4)

aa2

》Nac”’ +

Clc) + Vo

輙a 、

CaCl2 ------------- CaNa' + 2Clc, +

+ Vci'

AgAg(->VAg, + Agi'

3-8 MgO的密度是3. 58g/cm3,其晶格参数是0. 42nm,计算单位晶胞MgO的肖特基缺陷数。

解:设有缺陷的MgO晶胞的晶胞分子数为x,晶胞体积》= (4.20) 3, X=PVN0/M=3. 96,单位晶胞 的肖脱基缺陷数=4-x=0. 04?

3-9 MgO (NaCl型结构)和LiQ (反萤石型结构)均以氧的立方密堆为基础,而且阳离子都在这 种排列的间隙中,但在MgO中主要的点缺陷是肖特基缺陷,而在LiQ中是弗伦克尔型,请解释原因。

解:Mg占据四面体空隙,Li占据八面体空隙。

3-10 Mg0晶体的肖特基缺陷生成能为84kJ/mol,计算该晶体1000K和1500K的缺陷浓度。(答: 6. 4X10-3, 3.5X107)

解:n/N=exp (-E/2RT) , R=& 314, T=1000k: n/N=6. 4X10-3; T=1500k: n/N=3. 5 X 10 2。

3-H非化学计量化合物Fe’O中,Fe\求Fe*0中的空位浓度及x值。(答:2.25 X10\5; 0. 956) ftO

解:FeG ----------- 2Fe”,+ 30” + V”'’

y 2y

2y

Fe3l2yl?e2'i 3>0,

1一『

=0.1 T 2y=0.1-0. 3y Ty=0.1/2. 3=0.0435

X=l-y=l-O. 0435=0. 9565, Feo.gsesO

\\-y

0.0435

[v”’ ' ] = x + l」+ 0.9565=2.22X10:

3-12非化学计量缺陷的浓度与周围气氛的性质、压力大小相关,如果增大周围氧气的分压.非 化学计量化合物FerO及Zn”Q的密度将发牛怎么样的变化?增大还是减小?为什么?

解: Zn (g)

Zn (g) Tzni,+ e'

+ 1/20, = ZnO

Zni' + e' + l/202 TznO [ZnO] = [e‘ ] APO J

[ZniJ'L p、?

1

2O2 (g)㈠ 00 + VJ '

+ 2h

k=[00][ VJ ' ]h]/P0』/2=4[00][ VJ ' ]3/ P02l/2 [VJ ' ] xPO'j/6,

3-13对于刃位错和螺位错,区别其位错线方向、伯氏矢量和位错运动方向的特点。

解:刃位错:位错线垂直于b,位错线垂直于位错运动方向;螺位错:位错线平行于b,位错线平 行于位错运动方向。

3-14图3-1是晶体二维图形,内含有一个正刃位错和一个负刃位错。 (1) (2)

围绕两个位错伯格斯回路,最后得伯格斯矢量若干? 围绕每个位错分别作伯氏回路,其结果又怎样?

图3-1

解:略。

3-15有两个相同符号的刃位错,在同一滑移面上相遇,它们将是排斥还是吸引? 解:排斥,张应力重叠,压应力重叠。

3-16晶界对位错的运动将发生怎么样的影响?能预计吗? 解:晶界对位错运动起阻碍作用。

3-17晶界有小角度晶界与大角度晶界之分,大角度晶界能用位错的阵列来描述吗?

解:不能,在大角度晶界中,原子排列接近于无序的状态,而位错之间的距离可能只有1、2个 原子的大小,不适用于大角度晶界。

3-18从化学组成、相组成考虑,试比较固溶体与化合物、机械混合物的差别。 align=center>

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习题:第一章第二章第三章第四章第五章第六章第七章第八章第九章第十章第十一章答案:第一章第二章第三章第四章第五章第六章第七章第八章第九章第十章第十一章3-2略。3-2试述位错的基本类型及其特点。解:位错主要有两种:刃型位错和螺型位错。刃型位错特点:滑移方向与位错线垂直,符号丄,有多余半片原子面。螺型位
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