（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利说明书
（21）申请号 CN201511035061.2 （22）申请日 2015.12.31
（71）申请人 天津市兆瑞测控技术有限公司
地址 300192 天津市南开区宜宾道40号海科大厦
（10）申请公布号 CN105674909B
（43）申请公布日 2018.06.26
（72）发明人 邢中柱
（74）专利代理机构 北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 刘昕
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
一种高精度二维轮廓测量方法
（57）摘要
本发明提供一种高精度二维轮廓测量
方法，包括以下步骤：先建立一个三维坐标系，将待测物置于三维坐标系的X轴向，在YZ平面内设置一个点光源，点光源可以扫描出具有一定宽度的平行光；点光源垂直于XZ平面发射光线，点光源发射的光线与待测物体相交则该交点为一个亮点，最终点光源发射的光线与待测物相交，并在YZ面中形成一条光轮廓曲线；通过面阵摄像机对光轮廓曲线成像，其光轴在XY平面中且经过原点B，光轴与YZ平面呈θ角；面阵摄像机接收Y
轴与Z轴方向光轮廓曲线的光信号，经过映射变换得出某一时刻的待测物轮廓尺寸数据，映射变换与面阵摄像机的光心距离原点B的距离L无关。本发明的有益效果是：该设计使得测量更便捷，结果更精准。 法律状态
法律状态公告日2016-06-15 2016-06-15 2016-07-13 2016-07-13 2018-06-26
法律状态信息
公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 授权
法律状态
公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 授权
权利要求说明书
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一种高精度二维轮廓测量方法
