PAUT技术检测方案
一，设备简介
PAUT系统可实现环焊缝和纵焊缝的检测，能够同时实现A扫描、
TOFD灰度图像B扫描和相控阵S扫描成像。使用PA检测方法弥补了 TOFD检测时产生的上下表面盲区的不足，直观的反应出表面及内部 的埋藏缺陷的形态。
相控阵检测的优势： 1. 成像直观 2. 检测效率咼 3. 可以存储检测记录
4. 可检测大壁厚零件覆盖上下表面盲区 C扫描成像，并可快速知道缺陷步进方向的位置
检测除焊缝以外的其他复杂形状零件， 对气孔类缺陷检出率较高，同 时对焊帽里面的缺陷也可以检出
该系统实现TOFD和PA相结合的扫查检测，该系统能够实现 A/B/C/S扫查图像，检测可以实时保存，便于后续查验审核。
二，检测设备
检测的设备：
奥林巴斯的相控阵探伤仪Omn iSca n MX2
精选范本
扫查器：IT-SCS05小径管扫查器
探头
奥林巴斯5Mhz16晶片相控阵探头 一对 奥林巴斯10Mhz6mr探头直径TOFD探头
检测的原理：
通过扫查器的连接，使TOFD探头和PA探头位于焊缝的两侧，如图:
一对
TOFfJ 口相控阵探头距离需要根据公式的计算和模拟软件的模拟, 使角度声速覆盖整个焊缝。
检测的界面数据为TOF［和PA图像：
精选范本
A：4SC0 SK1Q9Q 宝卯 DC? rrm mr. A 00 270 L GOI UH X mm liO.K rrm
三，人员资质要求
所有进行数据评判和分析人员，应具有超声波二级资质。
四，管件表面要求
被检表面应无油污，灰尘，疏松氧化皮，焊接飞溅和任何妨碍探 头正常移动或削弱超声波传播的外来物。被检表面无起伏情况，确保 耦合情况良好。
五，设备的校准
相控阵探头的校准，相控阵探头的校准分为灵敏度校准、声速校 准、楔块延迟校准和 TCG校准。
精选范本
Position of side Diametei of Material thickness (t) mm Thickness of dnlled hole sicle dulled hole mm iefeience block (T) nwi 1/4 T & 1/2 T t < 25mm 20 or t 3 0 & 25 xuni < t < 5Onun 38 or t 3.0 3 4 T 50 t < I OCuim 75 ot t 3.0100 mm < t < 150nwi 125 or t 参考试块反射体位置及尺寸 校准时使用标准试块，以基本缺陷尺寸作为灵敏度的判定。校准
试块采用TB7567通孔试块，如图:
TB7567
1.声速校准
将探头放置试块不同深度横通孔处进行校准。 选择两个不同深度 的横通孔，进行声速校准。使每个深度的反射信号穿出闸门，进行选 定，过程截图如下：
精选范本
*Sc：u ? V 陆0知 45.0 CL
2.楔块延迟校准
选择一个标准深度的横通孔，进行楔块延迟校准，控制闸门使每
个角度对反射体的回波穿出闸门，采集信号，过程截图如下：
精选范本
PAUT技术
