SPC统计技术考试试题答案

SPC统计技术考试试题

姓名： 部门： 得分： 一、

填空题

1.预防是一个 事前 型的策略，通过直接分析和改善 过程 本身来改进质量和生产率，预防和持续改进和宗旨一致。

２.统计过程控制：使用诸如 X-R 控制图等统计技术来分析过程或其输出以便采取适当的措施来达到 过程稳定 。

３计量型数据：只能用量具测量才能获得的数据 ，通常用Ｘ－Ｒ图控制分析。

４．计数型数据： 只能通过统计运算获得数据、或者止通规获得结果不知具体量化的数据 ，通常用Ｐ图控制。

５．控制图：用来表示一个过程特性的图表，图上标有 根据那个特性收集到的一些统计 数据，一是用来制定一个过程是否一直受统计控制 ，二是用来帮助过程 保持受控状态 。

６．极差是一个子组，样本或总体中 最大值与最小值 之差。 二：问答题，

１． 在过程控制中，什么是普通原因？

随机过程变差的一部分。可控制的变差根源

２．

在过程控制中，什么是特殊原因？

一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差根源

３． 在质量原因分析、解决问题时最常用的几大工具？

检查表、层别法、柏拉图、因果图、散布图、直方图、控制图

七大手法的名称、控制图。

４．根据图示表将其ＣＰＫ、 ＰＰＫ的计算步骤写出来？

X - LSL & Ｐ PK 3 σ ^ 3 σ ^ Ｓ Ｓ

USL - X

最小值

C PK

X - LSL USL - X

3 σ ^

3 σ ^

最小值