涂层测厚仪作业指导书
集团文件版本号：（M928-T898-M248-WU2669-I2896-DQ586-M1988）
涂层测厚仪作业指导书 MHMI0522 版本：1.0 批 准： 编号： 厦门明翰电气股份有限实施日期： 2011 年 7 月 1 日 质量环境管理文受控状态： 起 草： 审 核： 1．目的
规范涂层测厚仪的作业规程。 2．适用范围
本文件适用铁磁性钣金件表面的油漆层及镍铬在内的各种有色金属电镀层厚度测量工作。 3．定义
涂层测厚仪的测厚原理：
磁性法：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成闭合磁路，由于非磁性覆
盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
涡流法：利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属
基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
4．职责
质量管理部：负责本文件的制定、完善和执行，负责本检测设备的维护、保养及校正工作。
注：本仪器使用者必须先熟读本作业指导书，按照规程进行操作。 5．仪器各部分介绍
5.1.仪器主体各部分名称 5.2测头各部分名称 5.3屏幕显示说明 6.仪器的校准
6.1校准标准片（包括箔和基体）
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。 6.1.1校准箔
对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于
曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。
6.1.2基体
6.1.2.1对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。
6.1.2.2如果待测试件的金属基体厚度没有超过附表1中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：
a) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准；
b) 用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
6.1.2.3如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
6.2校准方法
本仪器常用的有两种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。
6.2.1零点校准
6.2.1.1在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×μm＞。 6.2.1.2按ZERO 键，屏显<0.0>。校准已完成，可以开始测量了。
6.2.1.3重复上述a、b 步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
涂层测厚仪作业指导书图文稿
