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MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置及监测方法

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(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN202410181489.2 (22)申请日 2024.03.16

(71)申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

地址 511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

(10)申请公布号 CN111398778A

(43)申请公布日 2024.07.10

(72)发明人 董显山;来萍;黄钦文;黄云;杨少华

(74)专利代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司

代理人 黄隶凡

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置及监测方法

(57)摘要

本申请涉及一种MEMS器件敏感结构辐照

在线监测装置及监测方法;其中,MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置,包括对敏感结构与信号处理电路进行预设距离隔离的移动载体,以及对信号处理电路进行辐照屏蔽的屏蔽体;其中,移动载体包括用于布设敏感结构的第一固定部,和用于布设信号处理电路的第二固定部,第一固定部与第二固定部间隔设置、以使敏感结构与信号

处理电路以预设距离隔离,敏感结构连接信号处理电路;屏蔽体设有空腔,屏蔽体顶部设有与空腔相连通的出入孔,以供布设有信号处理电路的第二固定部的进出;当信号处理电路位于空腔内时进行辐照,并基于待测MEMS器件的在线输出参数得到监测结果。本申请可实现只针对敏感结构的辐照及在线监测。

法律状态

法律状态公告日

2024-07-10 2024-07-10 2024-08-04

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效

法律状态

公开 公开

实质审查的生效

权利要求说明书

MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置及监测方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看

MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置及监测方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(21)申请号CN202410181489.2(22)申请日2024.03.16(71)申请人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))地址511300广东省广州市增城区朱村街朱村大
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