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光纤测量实验指导书2015

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目 录

实验一 LD/LED的P-I-V特性曲线测试 实验二 光电管光照特性测试 实验三 单模光纤衰减系数的测试 实验四 单模光纤几何参数测量 实验五 OTDR测量仪应用 实验六 单模光纤模场半径测量 实验七 微孔直径的衍射测量 实验八 图像信息处理的光电实现 实验九 光纤传感的温度测量实验 实验十 光纤传感的压力测量实验

说明:

一次实验3课时,分两批实验,周一晚6:00,周五晚6:00 实验一、二、三,比较基础,同学都要做。

实验四~十相对专业一点,需花费较多的时间。为保证质量,采用分组主攻一个或两个实验,同时适当了解其他实验的方式来做。

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实验一 LD/LED的P-I-V特性曲线

一. 实验目的

1. 测试LD/LED的功率-电流(P-I)特性曲线和电压-电流(V-I)特性曲线,计算阈值电流(Ith)和外微分量子效率。

2. 了解温度(T)对阈值电流(Ith)和光功率(P)的影响。

二. 实验仪器

1. LD激光二极管(带尾纤输出,FC型接口) 1只 2. LED发光二极管 1只 3. LD/LED电流源 1台 4. 温控器(可选) 1台 5. 光功率计 1台 6. 积分球(可选) 1个 7. 万用表 2台

三. 实验原理

激光二极管LD和发光二极管LED是光通讯系统中使用的主要光源。LD和LED都是半导体光电子器件,其核心部分都是P-N结。因此其具有与普通二极管相类似的V-I特性曲线,如图所示:

V VT

I

图1 LD/LED的V-I特性曲线

由V-I曲线我们可以计算出LD/LED总的串联电阻R和开门电压VT。

P LD LED Ith

图2 LD/LED的P-I特性曲线

在结构上,由于LED与LD相比没有光学谐振腔。因此,LD和LED的功率与电流的

2

P-I关系特性曲线则有很大的差别。LED的P-I曲线基本上是一条近似的线性直线。

从图中可以看出LD的P-I曲线有一阈值电流Ith,只有在工作电流If>Ith部分,P-I曲线才近似一根直线。而在If

对于LD可以根据其P-I曲线可以求出LD的外微分量子效率ηD。其具有如下关系:

P??I?I??V??fthD

因此在曲线中,曲线的斜率表征的就是外微分量子效率。

由于光电子器件是由半导体材料制成,因此温度对其光电特性影响也很大。随着温度的增加,LD的阈值逐渐增大,光功率逐渐减小,外微分量子效率逐渐减小。阈值与温度的近似关系可以表示为:

I式中,

th(T)?Ith(Tr)exp[(T?Tr)/T0]

r0Tr为室温,

I(T)为室温下的阈值电流,Tth为特征温度。不同温度下,LD

的P-I曲线如图,根据此图可以求出LD的特征温度。

P T1 T2

Ith1 Ith2 图3 LD的温度特性曲线

(T2>T1)

I

四. 实验步骤

1. 按图示线路连接LD/LED,注意不要将极性接反!若没有配积分球,可直接将LD与光功率计连接,将LED在暗室内放入光功率计的接口处。实验时,若不使用积分球,将只会影响到LED各参数的测量精度,对LD各参数的测量不会影响。 2.

LD/LED电流源光功率计

图4 没有使用积分球和温控器的连接框图

3

LD/LED电流源光功率计温控器

3. 若实验中用到温控器,启动温控器电源,并将温度调到200C。

4. 开启LD的驱动电源,缓慢调节电流旋纽逐渐增加工作电流。每隔一定电流间隔,记录LD的电压值和光功率值。绘制LD的P-I曲线和V-I曲线。 I(mA) U(V) P(uW) P(dB) 0 5 10 15 20 25 35 表格 1 LD的P-I-V实验测试数据

5. 开启LED的驱动电源,缓慢调节电流旋纽逐渐增加工作电流。每隔一定电流间隔,记录LED的电压值和光功率值。绘制LED的P-I曲线和V-I曲线。 I(mA) U(V) P(uW) P(dB) 0 10 20 30 40 50 60 表格2 LED的P-I-V实验测试数据

6. 调节温控器,升高LD的工作温度,重复实验步骤3,记录LD的P-I曲线和V-I曲线。比较在不同温度下,LD的特性曲线变化。

T(℃) I(mA) U(V) P(uW) P(dB) 0 20 25 40 60 表格 3 温度特性测试数据

五. 思考题

1. 串联电阻R对于LD/LED的应用性能有何影响? 2. 为什么LD/LED的输出特性有较大差异?

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实验二 光电管光照特性测试

一.实验目的

1. 掌握光电二极管的工作原理和使用方法。 2. 了解光电二极管的光照特性和伏安特性。

二.实验仪器

1.照度计 1台 2.积分球(可选) 1个 3.光电探测器 1只 4.卤素灯光源 1台 5.万用表 2台 10. 照度计 1台

三.实验原理

光电二极管是结型半导体光伏探测器。当入射光子能量大于材料禁带宽度时,半导体吸收光子能量将产生电子空穴对,在PN结区的电子空穴对被内建电场(加在光电二极管上的电压是反向偏压)分离,形成光生电势,产生光生电流。光电二极管与普通二极管相比,有许多共同之处, 它们都有一个P-N结。因此,他们都属于单向导电的非线性元件。但是光电二极管是一种光电器件,在结构上有其特殊的地方。光电二极管目前度采用硅或者锗为原料,但锗器件暗电流的温度系数远大于硅器件,工艺不如硅器件成熟。下面着重介绍硅光电二极管。

1. 硅光电二极管的结构和工作原理 硅光电二极管的结构如图所示:

图 1 环形光电二极管结构示意图

为了消除表面漏电流,在器件的SiO2表面保护层中间扩散一个环形P-N结,称为环极。在有环极的光电二极管中,通常有三根引出线。对于N+P结构器件,N侧电极称为前极,P侧电极称为后极。环极接电源正极,后极接电源负极,前极通过负载接电源正极。由于环极电位高于前极,在环极形成阻挡层阻止表面漏电流的通过。可以使得负载R的漏电流很小(一般小于0.05μA)。若不用环极也可以将其悬空。

硅光电二极管的封装刻采用平面镜和聚焦透镜作为入射窗口。采用凸透镜有聚光的作用,有利于提高灵敏度。由于聚焦位置与入射光方向有关,因此能减小杂散背景光的干扰,但也引起灵敏度随入射光方向而变化。采用平面镜作窗口,虽然没有对准的问题,但易受到杂散光的干扰。

2. 伏安特性

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光纤测量实验指导书2015

目录实验一LD/LED的P-I-V特性曲线测试实验二光电管光照特性测试实验三单模光纤衰减系数的测试实验四单模光纤几何参数测量实验五OTDR测量仪应用实验六单模光纤模场半径测量实验七微孔直径的衍射测量实验八图像信息处理的光电实现实验九光纤传感的温度测量实验实验十
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