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CMOS像素阵列校正系统

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CMOS像素阵列校正系统

温建新;张远;曾夕

【期刊名称】《集成电路应用》 【年(卷),期】2018(035)005

【摘要】研究了CMOS像素阵列中的成像不一致性主要成因,并针对像素和读出电路的不一致性提出了一种应用于CIS的CMOS像素阵列校正系统,介绍了基于此校正系统的具体校正方法.基于HL 55 nm工艺完成芯片设计和平台测试,在不同温度条件下,验证了校正系统的校准效果. 【总页数】4页(31-34)

【关键词】集成电路设计;CMOS图像传感器;像素校正;成像不一致 【作者】温建新;张远;曾夕

【作者单位】上海集成电路研发中心有限公司,上海 201210;上海集成电路研发中心有限公司,上海 201210;上海集成电路研发中心有限公司,上海 201210 【正文语种】中文

【中图分类】TN402;TP391.41 【相关文献】

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CMOS像素阵列校正系统

CMOS像素阵列校正系统温建新;张远;曾夕【期刊名称】《集成电路应用》【年(卷),期】2018(035)005【摘要】研究了CMOS像素阵列中的成像不一致性主要成因,并针对像素和读出电路的不一致性提出了一种应用于CIS的CMOS像素阵列校正系统,介绍了基于此校正系统的具体校正方法.基于HL55nm工艺完成芯片设计和平台测试,
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