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一类用于测量锑化物材料载流子浓度剖面的电解液

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(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN200410093246.4 (22)申请日 2004.12.17

(71)申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

(10)申请公布号 CN1632552A (43)申请公布日 2005.06.29

(72)发明人 洪婷;张永刚;朱福英

(74)专利代理机构 上海智信专利代理有限公司

代理人 潘振甦

(51)Int.CI

G01N27/28; G01N27/44;

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

一类用于测量锑化物材料载流子浓度剖面的电解液

(57)摘要

本发明提供一类适用于电化学电容-电压

(ECV)方法测量锑化物半导体材料载流子浓度剖面分布电解液,目的在于提高电化学电容-电压方法测量锑化物材料载流子浓度的准确性。其基本特征在于:基础溶液为酒石酸钾钠的水溶液;在测量不同导电类型(p型或n型)的锑化物半导体材料时,分别添加酸性溶液或者碱性溶液以形成

可靠的电解液—半导体肖特基结,从而达到准确测量的目的。添加的酸性溶液可以是盐酸、酒石酸或冰醋酸等非氧化性酸或它们的混合物,添加的碱性溶液可为氢氧化钠或氢氧化钾与乙二胺四乙酸(EDTA)的混合溶液。在电化学C-V方法测量中采用此电解液测量锑化物材料的剖面载流子浓度,能获得与霍尔等方法测量结果相符的结果,并且具有无毒性、易保存等优点。

法律状态

法律状态公告日

法律状态信息

2005-06-29 公开

2005-08-24 实质审查的生效 2008-03-05 授权 2015-02-04

专利权的终止

法律状态

公开

实质审查的生效 授权 专利权的终止

权利要求说明书

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一类用于测量锑化物材料载流子浓度剖面的电解液

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(21)申请号CN200410093246.4(22)申请日2004.12.17(71)申请人中国科学院上海微系统与信息技术研究所地址200050上海市长宁区长宁路865号(10)申请公布号CN
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