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一、选择题
1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（ B ） A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；
2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ） A. Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。 三、填空题
1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续 X射线和 特征 X射线。 2. X射线与物质相互作用可以产生 俄歇电子 、 透射X射线 、 散射X射线 、 荧光X射线 、 光电子 、 热 、 、 。
3. X射线的本质既是 波长极短的电磁波 也是 光子束 ，具有 波粒二象性 性。
5. 短波长的X射线称 ，常用于 ；长波长的X射线称 ，常用于 。 一、选择题
1.有一倒易矢量为g??2a??2b??c?，与它对应的正空间晶面是（ ）。 A. （210）；B. （220）；C. （221）；D. （110）；。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。
A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。
3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ）。
A．是否满足布拉格条件；B．是否衍射强度I≠0；C．A+B；D．晶体形状。 4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ）。 A．4；B．8；C．6；D．12。 二、填空题
1. 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ；倒易矢量的长度等于对应 。 2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该 满足 条件，能产生 。 3. 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还
有 ， ， ， 。
4. 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ，对于粉末
多晶的相对强度为 。
5. 结构振幅用 表示，结构因素用 表示，结构因素=0时没有衍射我们称
或 。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现 。 三、选择题
1.最常用的X射线衍射方法是（ ）。
A. 劳厄法；B. 粉末多法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ ）。 A. 正装法；B. 反装法；C. 偏装法；D. A+B。
3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（ ）。 A. <325目；B. >250目；C. 在250-325目之间；D. 任意大小。 4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（ ）。 A. 保持同步1﹕1 ；B. 2﹕1 ；C. 1﹕2 ；D. 1﹕0 。 5.衍射仪法中的试样形状是（ ）。
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A. 丝状粉末多晶；B. 块状粉末多晶；C. 块状单晶；D. 任意形状。 四、填空题
1. 在粉末多晶衍射的照相法中包括 、 和 。
2. 德拜相机有两种，直径分别是 和Φ mm。测量θ角时，底片上每毫米对
应 o和 o。
3. 衍射仪的核心是测角仪圆，它由 、 和 共同组成。
4. 可以用作X射线探测器的有 、 和 等。 5. 影响衍射仪实验结果的参数有 、 和 等。 五、选择题
1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。
2. X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ ）进行核对。 A. Hanawalt索引；B. Fenk索引；C. Davey索引；D. A或B。 3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（ ）。 A. 相机尺寸误差；B. 底片伸缩；C. 试样偏心；D. A+B+C。 4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（ ）。 A. 第一类应力（宏观应力）；B. 第二类应力（微观应力）；C. 第三类应力；D. A+B+C。
2
5.SinΨ测量应力，通常取Ψ为（ ）进行测量。 A. 确定的Ψ角；B. 0-45o之间任意四点；C. 0o、45o两点；D. 0o、15o、30o、45o四点。 六、填空题
6. 在Δθ一定的情况下，θ→ o，Δsinθ→ ；所以精确测定点阵常数应选择 θ。 7. X射线物相分析包括 和 ，而 更常用更广泛。
8. 第一类应力导致X射线衍射线 ；第二类应力导致衍射线 ；第三类应力
导致衍射线 。
9. X射线测定应力常用仪器有 和 ，常用方法有 和 。 10. X射线物相定量分析方法有 、 、 等。 七、选择题
1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（ 4*10-5 ）。 A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000。 2. 可以消除的像差是（ ）。
A. 球差；B. 像散；C. 色差；D. A+B。 3. 可以提高TEM的衬度的光栏是（ ）。
A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。 4. 电子衍射成像时是将（ ）。
A. 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；C. 关闭中间镜；D. 关闭物镜。
5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是（ ）。
A. 物镜的物平面；B. 物镜的像平面C. 物镜的背焦面；D. 物镜的前焦面。 八、填空题
11. TEM中的透镜有两种，分别是 物镜 和 目镜 。
12. TEM中的三个可动光栏分别是 第二聚光镜光栅 位于 第二聚光镜下方焦点位
置 ， 物镜光栅 位于 物镜后焦面上 ， 选区光栅 位于 物镜像平面位置 。 13. TEM成像系统由 物镜 、 中间镜 和 投影镜 组成。
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14.
TEM的主要组成部分是 照明系统 、 成像系统 和 观察记录系
统 ；辅助部分由 真空系统 、 循环冷却系统 和、控制系统 组成。
15. 电磁透镜的像差包括 球 差 、 像散 和 色差 。 九、选择题
1.单晶体电子衍射花样是（ ）。
A. 规则的平行四边形斑点；B. 同心圆环；C. 晕环；D.不规则斑点。 2. 薄片状晶体的倒易点形状是（ ）。
A. 尺寸很小的倒易点；B. 尺寸很大的球；C. 有一定长度的倒易杆；D. 倒易圆盘。 3. 当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（ ）。 A. 球面外；B. 球面上；C. 球面内；D. B+C。
4. 能帮助消除180o不唯一性的复杂衍射花样是（ ）。
A. 高阶劳厄斑；B. 超结构斑点；C. 二次衍射斑；D. 孪晶斑点。 5. 菊池线可以帮助（ ）。
A. 估计样品的厚度；B. 确定180o不唯一性；C. 鉴别有序固溶体；D. 精确测定晶体取向。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ ）。 A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。 十、填空题
16. 电子衍射和X射线衍射的不同之处在于 不同、 不同，以
及 不同。
17. 电子衍射产生的复杂衍射花样是 、 、 、
和 。
18. 偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度，它反映的是θ角 布拉格方程的程度。 19. 单晶体衍射花样标定中最重要的一步是 。
20. 二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在 产生衍射花样，
但体心立方和面心立方结构的花样中 。 十一、 选择题
1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ ）。 A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。 2. 当t=5s/2时，衍射强度为（ ）。 A.Ig=0；B. Ig<0；C. Ig>0；D. Ig=Imax。
4. 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（ ）。 A. 质厚衬度；B. 衍衬衬度；C. 应变场衬度；D. 相位衬度。
5. 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（ ）。
A. 小于真实粒子大小；B. 是应变场大小；C. 与真实粒子一样大小；D. 远远大于真实粒子。
十二、 填空题
21. 运动学理论的两个基本假设是 入射电子在样品内只能受到不多于一次的散射 和
入射电子波在样品内传播过程中，强度的衰减可以忽略 。
22. 对于理想晶体，当 或 连续改变时衬度像中会出
现 或 。
23. 对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的 点阵畸变 导致衍射波振幅增加了一个
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附加的位相因子 ，但是若 位相角 =2π的整数倍时，缺陷也不产生衬度。 24. 一般情况下，孪晶与层错的衬度像都是平行 ，但孪晶的平行线 ，而层
错的平行线是 的。
25. 实际的位错线在位错线像的 ，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是因为位
错线像的宽度是 宽度。 十三、 选择题
1. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ ）。 A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。
2. 在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（ ）。
A.和电子束垂直的表面；B. 和电子束成30o的表面；C. 和电子束成45o的表面；D. 和电子束成60o的表面。
3. 可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（ ）。 A. 背散射电子；B. 吸收电子；C. 特征X射线；D. 俄歇电子。 4. 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（ ）。 A. 波谱仪；B. 能谱仪；C. 俄歇电子谱仪；D. 特征电子能量损失谱。 5. 波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（ A ）。
A. 快速高效；B. 精度高；C. 没有机械传动部件；D. 价格便宜。 十四、 填空题
26. 电子束与固体样品相互作用可以产生 、 、 、 、 、 等物理信号。
27. 扫描电子显微镜的放大倍数是 的扫描宽度与 的扫描宽度的比值。
在衬度像上颗粒、凸起的棱角是 衬度，而裂纹、凹坑则是 衬度。
28. 分辨率最高的物理信号是 为 nm，分辨率最低的物理信号是
为 nm以上。
29. 电子探针包括 和 两种仪器。
30. 扫描电子显微镜可以替代 进行材料 观察，也可以对 进
行分析观察。
1. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”？ 答：
⑴ 当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵ 当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
⑶ 一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位时，将向外辐射K系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。
⑷ 指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
⑸ 当原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Ek。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成了L电离，其能由Ek变成El，此时将释Ek-El的
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能量，可能产生荧光χ射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。
14. 当体心立方点阵的体心原子和顶点原子种类不相同时，关于H+K+L=偶数时，衍射存
在，H+K+L=奇数时，衍射相消的结论是否仍成立?
答：假设A原子为顶点原子，B原子占据体心，其坐标为：
A：0 0 0 （晶胞角顶） B：1/2 1/2 1/2 （晶胞体心）
i2π（0K+0H+0L）i2π(H/2+K/2+L/2)
于是结构因子为：FHKL=fAe+fBe
iπ(H+K+L)
=fA+fBe
nπi－nπin
因为： e=e=(－1)所以，当H+K+L=偶数时: FHKL=fA+fB
22
FHKL=(fA+fB)
当H+K+L=奇数时: FHKL=fA－fB
22
FHKL=(fA－fB)
从此可见, 当体心立方点阵的体心原子和顶点原主种类不同时，关于H+K+L=偶数时，衍射存在的结论仍成立，且强度变强。而当H+K+L=奇数时，衍射相消的结论不一定成立，只有当fA=fB时,FHKL=0才发生消光，若fA≠fB，仍有衍射存在，只是强度变弱了。
15. 物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何
不同？
答： 物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I），而没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花
样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，来确定某一物相。
对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na,Cl等）及其含量，却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。定性分析的任务就是鉴别待测样由哪些物相所组成。
16. 有效放大倍数和放大倍数在意义上有何区别？
答：有效放大倍数是把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），让人眼能分辨的放大倍数。
放大倍数是指显微镜本身具有的放大功能，与其具体结构有关。放大倍数超出有效放大倍数的部分对提高分辨率没有贡献，仅仅是让人观察得更舒服而已，所以放大倍数意义不大。
显微镜的有效放大倍数、分辨率才是判断显微镜性能的主要参数。
比较光学显微镜和电子显微镜成像的异同点。电子束的折射和光的折射有何异同点？ （1） 光 学 显 微 镜 电 子 显 微 镜 照明光源 可见光 电子波 照明光源 波动性 粒子性和波动性 的性质 光波通过玻璃透镜而发生折电子束在轴对称的非均匀电场或磁场成像原理 射，从而会聚成像。 的作用下，而发生折射，从而产生电子束的会聚与发散，以达到成像的目的！ 。 5欢迎下载
《材料现代分析方法》练习与答案修改
