实验五 触发器 R-S、D 、J-K
一、实验目的
1、熟悉并掌握R-S、D、J-K 触发器的构成，工作原理和功能测试方法； 2、学会正确使用触发器集成芯片；
3、了解不同逻辑功能触发器相互转换的方法。
二、实验仪器及器件
1、双踪示波器 2、实验用元器件
74LS00 1 片 74LS74 双D 型触发器 1 片 74LS112 双J-K 触发器 1 片
三、预习要求
1、预习各种触发器电路组成原理、特点及逻辑功能分类。 2、熟悉所用集成电路的引线位置。
3、写出实验内容3、4 的实验步骤及表达式。
四、实验内容
1、基本R-SFF 功能测试
将两个TTL 与非门首尾相接构成基本R-SFF 电路如图4.1 所示。 (1) 按下面的顺序在Sd、Rd端加信号： Sd=0 Rd=1 Sd=1 Rd=1 Sd=1 Rd=0 Sd=1 Rd=1
观察并记录FF 的Q、Q端的状态，将结果填入 表4.1 中，并说明在上述各种输入状态下，FF 执行的是什么功能？
表 4.1 Q Sd Rd Q 逻辑功能 （2） Sd端接低电平， Rd端加脉冲（手动单脉冲）。 （3） Sd端接高电平， Rd端加脉冲（手动单脉冲）。 （4）连接Sd、Rd ，并加脉冲（手动单脉冲）。
观察（2）、（3）、（4）三种情况下，Q、Q端的状态。总结基本R-S FF 的Q 或Q端的状态改变和输入端Sd、Rd的关系。
（5）当Sd=Rd=0 时，观察Q、Q端的状态。此时使Sd、Rd同时由低电平跳为高电平时，注意观察Q、Q端的状态，重复3～5 次看Q、Q端的状态是否相同，以正确理解“不定”状态的含义。
2、维持—阻塞型D 触发器功能测试
双D型正边沿维持—阻塞型触发器 74LS74的逻辑符号如图4.2 所示。 (1) 在Sd、Rd端加低电平，观察并 记录Q、Q端的状态。
(2) 在Sd、Rd端加高电平，D 端分别 接高、低电平，用点动脉冲作为CP， 观察并记录当CP 为0、↑、1、↓时Q 端 的变化（即由低电平跳为高电平和高电 平跳为低电平）。
(3) 当Sd=Rd=1、CP=0（或CP=1），改变D 端信号，观察Q 端的状态是否变化？ 整理上述实验室数据，将结果填入表4.2 中。
(4) 令 Sd=Rd=1，将D 和Q端相连，CP 加连续脉冲，用双踪示波器观察并记录Q相对于CP 的波形。
表 4.2 Sd 0 1 1 1
Rd 1 0 1 1 CP X X ↑ ↑ D X X 0 1 Qn 0 1 0 1 0 1 0 1 Qn?1
3、负边沿J-K 触发器功能测试
双 J-K 负边沿J-K 触发器74LS112 芯片的逻辑符号如图4.3 所示。 (1) 按表4.3 给出的控制状态顺序，测试其 逻辑功能，并将结果填入表4.3 中。 (2) 令J=K=1 时，CP 端加连续脉冲，用双踪 示波器观察Q 和CP 波形，并与D型触发器实 验2的(4) D和端相连时观察到的Q端的波形 相比较，有何异同点？
表格4.3 Sd 0 1 1 1 1 1 Rd 1 0 1 1 1 1 CP X X ↓ ↓ ↓ ↓
J X X 0 1 X X K X X X X 0 1 Qn X X 0 0 1 1 Qn?1 4、触发器功能转换
(1) 将D 触发器和J-K 触发器转换成T，触发器，列出表达式，画出实验电路图。 (2) 接入连续脉冲，观察各触发器CP 及Q端波形。比较两者关系。 (3) 自拟实验数据表并填写。 五、实验报告 1、整理实验数据。
2、写出实验内容3、4 的实验步骤及表达式。 3、画出实验4 的电路图及相应表格。 4、总结各类触发器特点。
实验五 触发器 R-S、D 、J-K
