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嵌入式系统实验五-ADC转换实验 

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《嵌入式系统》课程实验报告 2018年春季

《嵌入式系统》课程实验报告

学生姓名: 所在班级: 指导教师:

记分及评价:

项目满分 5分 得 分

一、实验名称

ADC转换实验 二、实验目的

了解S3C2410X处理器ADC相关控制寄存器的使用;通过实验掌握模数转换的原理;掌 握S3C2410X处理器的ADC转换功能。 三、实验内容

设计分压电路,利用S3C2410X集成的ADC模块,把分压值转换为数字信号,并通过超 级终端和数码管观察转换结果。 四、实验原理

1、 S3C2410X处理器的A/D转换

处理器内部集成了采用近似计数式的8路10位ADC,集成零比较器,内部产生比较时钟信号;支持软件使能休眠模式,以减少电压损耗。其主要特性: — 分辩率:10-位

— 微分线性度误差:± 1.0 LSB — 积分线性度误差:± 2.0 LSB — 最大转换速率:500 KSPS — 低功耗

— 供电电压:3.3V

— 输入模拟电压范围:0 ~ 3.3V — 片上采样保持功能 — 普通转换模式

— 分离的X/Y轴坐标转换模式 — 自动(连续) X/Y轴坐标转换模式 — 等待中断模式

2、 S3C2410X的AD转换的使用 寄存器组

处理器集成的ADC只使用到两个寄存器,即ADC控制寄存器(ADCCON)、ADC数据寄

《嵌入式系统》课程实验报告 2018年春季

存器(ADCDAT)。AD转换器的结构图如下:

五、实验结果

超级终端上显示以下信息:

六、练习题

参考实验程序,对第四通道的输入电压进行循环采样,循环周期为0.5S,并求出采样数据的平均值。

void adc_test(void) {

int i,j;

UINT16T usConData; float usEndData; float usAllData=0.0; float usArvData;

uart_printf(\

uart_printf(\ unPreScaler = PCLK/ADC_FREQ - 1;

rADCCON=(1<<14)|(unPreScaler<<6)|(1<<5)|(0<<2)|(1<<1); uart_printf(\ uart_printf(\ usConData=rADCDAT0&0x3FF;

for(j = 0; j < 20; j++) {

while(!(rADCCON & 0x8000)); usConData = rADCDAT0&0x3FF;

usEndData = usConData * 3.3000 / 0x3FF;

《嵌入式系统》课程实验报告 2018年春季

}

uart_printf(\

usAllData=usAllData+usEndData; delay(5000); }

usArvData= usAllData/20;

uart_printf(\平均值:%0.4f %uart_printf(\

嵌入式系统实验五-ADC转换实验 

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