（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利说明
（21）申请号 CN201580055107.9 （22）申请日 2015.10.09 （71）申请人 劳雷尔精机株式会社
地址 日本国大阪府大阪市中央区
（10）申请公布号 CN107148568B
（43）申请公布日 2024.07.10
书
（72）发明人 小山裕;五井广一
（74）专利代理机构 上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 梁海莲
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
使用THz频段的检查装置
（57）摘要
本发明的检查装置(1)具备：THz波照射
部(3)，其对被检查物(2)照射THz波；THz波探测部(5)，其检测被照射到被检查物(2)上的THz波的透射波(4)或反射波(22)；以及信息处理部(10)，其基于被照射THz波的被检查物(2)的透射波(4)或反射波(22)的强度数据，得到被检查物(2)的透射波(4)或反射波(22)的强度分布，信息处理部(10)获取透射波(4)或反射波(22)的二维强度分布，通过对检测没有附着异物(7)的被检查物
(2)时得到的强度分布与在检查时检测被检查物(2)时得到的检查时强度分布进行比较，来检测在检查时的被检查物(2)上是否附着有异物(7)。被检查物例如是纸张类。对于附着在被检查物上的异物(7)，信息处理部(10)也可以根据基于异物(7)的折射率与没有附着异物(7)的被检查物(2)的折射率之差的透镜效应而产生的强度变化来检测。
法律状态
法律状态公告日
2017-09-08 2017-09-08 2017-09-08 2017-10-24 2017-10-24 2024-07-10
法律状态信息
公开 公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 授权
法律状态
公开 公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 授权
权利要求说明书
使用THz频段的检查装置的权利要求说明书内容是....请下载后查看
使用THz频段的检查装置
