浅谈存储器测试
刘珊珊;康锡娥;马菲
【摘 要】随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展,测试问题显得越来越突出和重要.下面主要介绍了存储器电路的分类,以及存储器电路的测试参数和测试向量.
【期刊名称】《微处理机》 【年(卷),期】2008(029)001 【总页数】2页(P14-15) 【关键词】测试;存储器;测试向量 【作 者】刘珊珊;康锡娥;马菲
【作者单位】中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳,110032;中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳,110032;辽宁石化职业技术学院自动化系,锦州,121001 【正文语种】中 文 【中图分类】工业技术
No.1FeL.,2008 微处 理 机MJCROPROCESSORS第 1 期2008 年 2 月浅 谈 存 储 器 测 试刘 珊珊1 ， 康锡娥 1， 马 菲 2（
1 ． 中国 电子 科技集 团公 司第四 十七研 究所 ， 沈 阳 110032 ； 2． 辽 宁石 化职 业技 术学院 自动化 系，锦州 121001 ）摘 要 ：随着半导体存储器 向多品
种 、高速和高集成化等方 向发展 ， 测试 问题 显得越来越 突出和重要。 下 面主要介绍 了存储器 电路 的分 类， 以及 存储器 电路 的测试参数和测试 向量。关键词 ：测试 ； 存储器 ； 测试 向量中图分类号 ： TN4文献标识码 ： A文章编号 ：1002-2279(2008)Ol-0014-02 Shallow toTalkAboutMemoryTest LIU Shan-shan'.KANGXi -e'.MAFej2 ( 1.The 47thResearchInstimteofChinaElectronics TechnologyGroupCorporation,Shenyang110032,China;2.Liaon.ingPetrochemicalVocationalTechnologyCollege Automation,Jinzhou121001,China 》 Abstract:Now itbecomesmoreandmoreimportantandhighlightedin the testing of semiconductor memory bythedevelopmentof its varieties,high-speedandhigh-integratedintention.Theauthors mainlyshowusthe assortingof memory,thetesting parametersandthe testing vectorof memorycircuits. Key words:Test;Memory;Testingvector l存储器分类存储器是指在特定条件下用来存储数字信息的芯片。根据其特性不 同 ，存储器可 以分为以下几类 ： ①动态随机访问存储器 ( DRAM) ：密度高 ，但是访问 速度慢 ，存储器必 须刷新 ； ②静 态 随机访 问存储器( SRAM) ：速度快 ， 密度低 ；③CacheDARM: 由同一芯片 上 的 SRAM和 DRAM 组 成 ；④ 只 读 存 储 器 (ROM) ：高密度 、 低成本 ，适用 于 固定代码 的存储 ； ⑤可擦除可 编程 只读存储器 ( EPROM) ：现场可 编 程，需要用紫外光擦除 ； ⑥电可擦除可编程只读存储 器 (E2PROM) ：现 场 可 编 程 ， 可 通 过 电 方 法 擦 除 ； ⑦闪存( FLASH) ：低成本 、高密度 、低功耗 。 2存储器性能测试 2.1DC 直流测试DC 直流参数测试是最简单和便宜的，而且测量的是最坏情况的负载。 它们不适合作为功能测试或 时序测试 ，仅测试与端 口 连接的几个器件 ，未测试芯 片的其余部分。 包括以下几个部分 ：·接触测试（ 短路一开路）漏 电流测试(I． ， ． 、IIH、Ioz)转换电平测试( VIL、VIH)输出驱动电流测试( VOH 、V 。， ． 、I。． ， 、
IOH)电流消耗 ( Icc) 2.2AC 交流测试 普遍使用 的交流测试方法 主要有两种 ：搜索法和功能验证法 。 利用搜索法测试交流参数方法简单 易学 ，可 以得到确定 的参数值 ，但测试时间长 ，适合 在芯片的研制过程中使用 ， 了解器件的具体参数值， 对设计和工艺修改参数提供参考。 但在大规模生产 过程中，整个流程都相对稳定可靠 ，就没必要使用这 种方法 了。 此 时 ， 功 能 验证 法就显 示 出它 的优点。 功能验证法并不是真正去测试和显示器件的交流参 数 ，而是采用定时判别 的方法来确定交流参数是否 在合格范围之内，可 以理解为进行 了一次具有定时 精度的高速逻辑功能测试。 交流参数测试需要与功 能测试结合进行 ，如读取时间( ACCESSTIME)等。2.3功能测试功能测试的内容应包括检测所有存储单元能否 正确的读出 、写人数据和保持数据 ，地址译码器等外 围电路能否正常工作等。 我们施加一些测试向量 ，作者简介：刘珊珊（ 1980- ） ．女 ，沈阳市人，助工 ，主研方向：集成电路测试技术研究。收稿 日期： 2006-12-19 No.1 FeL. ,2008微处理机 MJCROPROCESSORS第1期 2008 年 2 月，康锡娥马菲2（．中国 电子 科技集 团公 司第四 十七研 究所 ， 沈 阳 110032 ； 2．辽宁石 化职 业技 术学院 自动化 系，锦州 121001 ）摘要：随着半导体存储器 向多品种 、高速和高集成化等方 向发展 ， 测试 问题 显得越来越 突出文章编号 ：1002-2279(2008)Ol-0014-02 toTalkAboutMemoryTest Shan-shan'.KANGXi -e'.MAFej2 1.The 47thResearchInstimteofChinaElectronics TechnologyGroupCorporation,Shenyang110032,China; 2.Liaon.ingPetrochemicalVocationalTechnologyCollege Automation,Jinzhou121001,China 》
itbecomesmoreandmoreimportantandhighlightedin the testing of semiconductor bythedevelopmentof its varieties,high-speedandhigh-integratedintention.Theauthors mainlyshowusthe assortingof
浅谈存储器测试
