一、 选择题
如果半导体中电子浓度等于空穴浓度,则该半导体以( A )导电为主;如果半导体中电子浓度大于空穴浓度,则该半导体以( E )导电为主;如果半导体中电子浓度小于空穴浓度,则该半导体以( C )导电为主。
A 、本征 B 、受主 C 、空穴 D 、施主 E 、电子
受主杂质电离后向半导体提供( B ),施主杂质电离后向半导体提供( C ),本征激发向半导体提供( A )。
A. 电子和空穴 B. 空穴 C. 电子
电子是带( B )电的( E );空穴是带( A )电的( D )粒子。
A 、正 B 、负 C 、零 D 、准粒子 E 、粒子
当Au 掺入Si 中时,它是( B )能级,在半导体中起的是( D )的作用;当B 掺入Si 中时,它是( C )能级,在半导体中起的是( A )的作用。
A 、受主 B 、深 C 、浅 D 、复合中心 E 、陷阱
MIS 结构发生多子积累时,表面的导电类型与体材料的类型( A )。
A. 相同 B. 不同 C. 无关
杂质半导体中的载流子输运过程的散射机构中,当温度升高时,电离杂质散射的概率和晶格振动声子的散射概率的变化分别是( B )。
A. 变大,变小 ;B. 变小,变大;C. 变小,变小; D. 变大,变大。 砷有效的陷阱中心位置(B )
A. 靠近禁带中央 B. 靠近费米能级
在热力学温度零度时,能量比E F 小的量子态被电子占据的概率为
( D ),当温度大于热力学温度零度时,能量比E F 小的量子
态被电子占据的概率为( A )。
A. 大于1/2 B. 小于1/2 C. 等于1/2 D. 等于1 E. 等于0
如图所示的P 型半导体MIS 结构
的C-V 特性图中,AB 段代表
( A ),CD 段代表( B )。
A. 多子积累 B. 多子耗尽
C. 少子反型 D. 平带状态
10. 金属和半导体接触分为( B )。
A. 整流的肖特基接触和整流的欧姆接触
B. 整流的肖特基接触和非整流的欧姆接触
C. 非整流的肖特基接触和整流的欧姆接触
D. 非整流的肖特基接触和非整流的欧姆接触
1 一块半导体材料,光照在材料中会产生非平衡载流子,若光照忽然停止t=τ后,其中非平衡载流子将衰减为原来的( A )。
A. 1/e B. 1/2 C. 0 D. 2/e