USB连接线端子产生锈蚀的机理

USB连接线端子产生锈蚀的机理

蔡颖颖;罗道军

【期刊名称】《电子产品可靠性与环境试验》 【年(卷),期】2008(026)006

【摘要】通过对USB连接线中USB端子表面产生锈蚀机理的分析与试验验证,发现了导致USB锈蚀的主要机理是,壳外被覆的聚氯乙烯(PVC)塑胶层因其稳定性不理想,在高温高湿的环境条件下容易分解产生腐蚀性的氯化氢气体残存于USB壳的表面,并在空气中存在的氧气及水的共同作用下使其发生了腐蚀;当USB壳表面镀层存在缺陷或污染时,这种锈蚀愈发严重.针对锈蚀产生的机理给出了相应的控制对策. 【总页数】5页(20-24)

【关键词】锈蚀机理;通用串行总线;端子;表面镀层;聚氯乙烯 【作者】蔡颖颖;罗道军

【作者单位】工业和信息化部电子第五研究所,广东,广州,510610;工业和信息化部电子第五研究所,广东,广州,510610 【正文语种】中文 【中图分类】TP336 【相关文献】

1.USB端子产生锈蚀的机理研究 [C],

2.一根USB2IDE连接线解决IDE设备的外置连接问题 [J], 邓富强

3.魏德米勒IOMNIMATE电源接线端子LL6．35——市场上通过UL1059-600V认证、间距最小的电源接线端子 [J],

4.USB3.0连接器端子的设计和仿真应用 [C], 宣万立; 金烨 5.用做连接器件的接线端子 [J], KennethAurin

以上内容为文献基本信息，获取文献全文请下载