预习 过程 中的 疑问 实验项目( 二 ) — 实验报告 实验 名称 Multisim模拟：基本门电路 指导教师 实验日期 分组情况 实验地点 实验环境 成 绩 使用开关、VCC 和接地为盖茨的输入生成逻辑 0 或 1，而 PROBE、LED、万用表作为输出的检测方法。开关可以如图2.5所示。VCC 和接地如图 2.6 所示。与图 2.7 所示的探测类似，万用表与图 2.8 所示。其他组件的添加方法类似，如LED、电阻等。模拟可以按按钮启动、暂停和停止，如图 2.9 所示。 实验过程（算法、代码、方法等） Figure 2.5 SWITCH in Multisim. Figure 2.6 VCC and GROUND in Figure 2.7 PROBE in Multisim. Figure 2.8 Multimeter in Multisim. Figure 2.9 simulating control button. （1）模拟 NAND 门的输入和输出之间的逻辑关系，如图 2.10 所示。 Figure 2.10 simulation circuit or NAND （2）模拟 NOR 门的输入和输出之间的逻辑关系，如图 2.11 所示。 Figure 2.11 simulation circuit or NOR （3）模拟XOR门的输入和输出之间的逻辑关系，如图2.12所示。 Figure 2.12 simulation circuit or XOR _____________________（4）尝试模拟F?AB?A?B输入和输出之间的逻辑函数，包括 1 NAND 门、1 个 XOR 门和 1 个 NOR 门，由 1 OR 门和 1 个 NOT 门实现。 （1）模拟 NAND 门的输入和输出之间的逻辑关系 根据图 2.10 绘制电路，并填写下表： 表1 NAND 逻辑关系表 INPUT Logic level： 0 0 1 1 Logic level： 0 1 0 1 1 1 1 0 OUTPUT Logic level： voltage（V） 5 5 5 0 实验结果（实验完成日期、结论及 分析、遇到的问题及解决方案、意见及建议等） （2）模拟 NOR 输入和输出之间的逻辑关系 根据图 2.11 绘制电路，并填写下表： 表 2 NOR 逻辑关系表 INPUT Logic level： 0 0 0 1 Logic level： 0 1 0 1 1 0 0 0 OUTPUT Logic level： voltage（V） 5 0 0 0
数电实验报告-Multisim模拟：基本门电路 - 图文
