PN结正向压降与温度特性的研究
一、实验目的
1. 了解PN结正向压降随温度变化的基本关系式。
2. 在恒流供电条件下,测绘PN结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测
PN结材料的禁带宽度。 3. 学习用PN结测温的方法。
二、实验原理
理想PN结的正向电流IF和压降VF存在如下近似关系
IF?Isexp(qVF) (1) kT其中q为电子电荷;k为波尔兹曼常数;T为绝对温度;Is为反向饱和电流,它是一个和PN结材料的禁带宽度以及温度等有关的系数,可以证明
Is?CTrexp[?qVg(0)kT] (2)
(注:(1),(2)式推导参考 刘恩科 半导体物理学第六章第二节)
其中C是与结面积、掺质浓度等有关的常数:r也是常数;Vg(0)为绝对零度时PN结材料的导带底和价带顶的电势差。
将(2)式代入(1)式,两边取对数可得
?kcVF?Vg(0)??In?qIF?其中
?kTr?T?InT?V1?Vn1 (3) ?q??kcV1?Vg(0)??In?qIF?KTVn1??InTrq?????T?
这就是PN结正向压降作为电流和温度函数的表达式,它是PN结温度传感器的基本方
程。令IF=常数,则正向压降只随温度而变化,但是在方程(3)中,除线性项V1外还包含非线性项Vn1项所引起的线性误差。
设温度由T1变为T时,正向电压由VF1变为VF,由(3)式可得
VF?Vg(0)?Vg(0)?VF1??TkT?T???1n? (4) ??T1q?T1?r按理想的线性温度影响,VF应取如下形式:
VF理想?VF1??VF1(T?T1) (5) ?T?VF?VF1等于T1温度时的值。
?T?T由(3)式可得
Vg(0)?VF1k?VF1???r (6) ?TT1q所以
V理想?Vg?VF1k?Tk?VF1????r??T?T1??Vg(0)?Vg(0)?VF1??T?T1?r (7)
T1q?T1q???由理想线性温度响应(7)式和实际响应(4)式相比较,可得实际响应对线性的理论
偏差为
kkTT??V理想?VF??r?T?T1??Ln()r (8)
qqT1设T1=300°k,T=310°k,取r=3.4*,由(8)式可得?=0.048mV,而相应的VF的改变量约20mV,相比之下误差甚小。不过当温度变化范围增大时,VF温度响应的非线性误差将有所递增,这主要由于r因子所致。
综上所述,在恒流供电条件下,PN结的VF对T的依赖关系取决于线性项V1,即正向压降几乎随温度升高而线性下降,这就是PN结测温的依据。必须指出,上述结论仅适用于杂质全部电离、本征激发可以忽略的温度区间(对于通常的硅二极管来说,温度范围约-50℃—150℃)。如果温度低于或高于上述范围时,由于杂质电离因子减小或本征载流子迅速增加;VF—T关系将产生新的非线性,这一现象说明VF—T的特性还随PN结的材料而异,对于宽带材料(如GaAs)的PN结,其高温端的线性区则宽;而材料杂质电离能小(如Insb)的
PN结,则低温端的线性范围宽,对于给定的PN结,即使在杂质导电和非本征激发温度范围内,其线性度亦随温度的高低而有所不同,这是非线性项Vn1引起的,由Vn1对T的二阶
d2Vn11dVn1?可知导数的变化与T成反比,所以VF-T的线性度在高温端优于低温端,TdTdT2这是PN结温度传感器的普遍规律。此外,由(4)式可知,减小IF,可以改善线性度,但并不能从根本上解决问题,目前行之有效的方法大致有两种:
1、对管的两个be结(将三极管的基极与集电极短路与发射极组成一个PN
结),分别在不同电流IF1,IF2下工作,由此获得两者电压之差(VF1- VF2)与温度成线性函数关系,即
VF1?VF2?kTIF1In qIF2由于晶体管的参数有一定的离散性,实际与理论仍存在差距,但与单个PN结相比其线性度与精度均有所提高,这种电路结构与恒流、放大等电路集成一体,便构成集成电路温度传感器。
1.
Okira Ohte等人提出的采用电流函数发生器来消除非线性误差。由(3)式可知,
非线性误差来自Tr项,利用函数发生器,使IF比例于绝对温度的r次方,则VF—T的线性理论误差为?=0,实验结果与理论值颇为一致,其精度可达0.01℃。
三、实验方法与内容
1. 实验系统检查与连接
A. 取下样品室的简套(左手扶筒盖,右手扶筒套顺时针旋转),查待测PN结管和测温元 件应分放在铜座的左、右两侧圆孔内,其管脚不与容器接触,然后放好筒盖内的橡皮0圈,装上筒套。0圈的作用是当样品室在冰水中进行降温时,以防止冰水渗入室内。
B. 控温电流开关应放在“关”位置,此时加热指示灯不亮。接上加热电源线和信号传输线。 两者连线均为直插式,在连接信号线时,应先对准插头与插座的凹凸定位标记,再按插头的紧线夹部位,即可插入。而拆除时,应拉插头的可动外套,决不可鲁莽左右转动,或操作部位不对而硬拉,否则可能拉断引线影响实验。 实验仪器线路已接好,由老师演示,同学们无需再调。 2. VF(O)或VF(TR)的测量和调零
将样品室埋入盛有冰水(少量水)的杜瓦瓶中降温,开启测试仪电源(电源开关在机 箱后面,电源插座内装保险丝),预热数分钟后,将“测量选择”开关(以下简称K)拨到IF,由“IF调节”使IF=50μA,待温度冷却至0℃时,将K拨到VF,记下VF(0)值,再将K置于?V,由“?V调零”使?V=0。
本实验的起始温度TS从室温TR开始,只测Si管,按上述所列步骤,测量VF(TR)并使?V=0。
3. 测定?V—T曲线
取走冰瓶,开启加热电源(指示灯即亮),逐步提高加热电流进行变温实验,并记录对 应的?V和T,至于?V、T的数据测量,可按?V每改变10或15mV立即读取一组?V、T,这样可以减小测量误差。应该注意:在整个实验过程中,升温速率要慢。且温度不宜过高,最好控制在120℃左右。
4. 求被测PN结正向压降随温度变化的灵敏度S(mv/℃)。作?V—T曲线(使用Origin软
件工具),其斜率就是S。
5. 估算被测PN结材料硅的禁带宽度Eg(0)=qVg(0)电子伏。根据(6)式,略去非线性,可
得
Vg?VF(0)?VF(0)?T?VF(273.2)?S??T T?T=-273.2°K,即摄氏温标与凯尔文温标之差。将实验所得的Eg(0)与公认值Eg(0)=1.21电子伏比较,求其误差。
四、数据处理
初识温度t?20.9C 有VF(20.9C)?601mV 加温电流0.3A
oo?(mV) T(oC) ?(mV) T(oC)
-10 -20 -30 -40 25.3 29.9 34.2 38.5 10 20 30 40 97.5 94.7 88.2 83.9
-50 -60 -70 -80 -90 -100 -110 -120 -130 -140 -150 -160 -170 -180
42.9 47.3 51.7 56.3 60.8 65.2 69.7 74.2 78.7 83.1 87.6 92 96.6 101.1
50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170
80.6 74.2 70.2 66.2 61.4 57.4 52.2 48.6 43.1 39.5 34.6 29.7 25.1
升温:
Y = A + B * X
Parameter Value Error
------------------------------------------------------------ A 46.46894 0.18884 B -2.24336 0.00281
------------------------------------------------------------ R SD N P
------------------------------------------------------------ -0.99999 0.27585 18 <0.0001