（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201710329998.3 （22）申请日 2017.05.11
（71）申请人 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
（10）申请公布号 CN108872240A
（43）申请公布日 2018.11.23
（72）发明人 刘铁男;王跃林;王彦明;孟维欣;方业周;徐敬义;赵艳艳;任艳伟 （74）专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 柴亮
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
微观缺陷检测装置及检测方法、显微镜
（57）摘要
本发明提供一种微观缺陷检测装置及检测
方法、显微镜，属于显示技术领域，其可解决现有的微观缺陷件标记不精准的问题。本发明的微观缺陷检测装置，包括：检测组件、标记组件、转换组件；其中，所述检测组件和所述标记组件均设置在所述转换组件上；所述转换组件与显微镜连接；所述检测组件，具有第一视区，用于检测显示面板上存在微观缺陷的位置；所述转换组件，用于在所述检测组件检测出存在微观缺陷的
位置，将所述标记组件旋转至存在微观缺陷的第一视区；所述标记组件，具有第二视区，用于在所述存在微观缺陷的位置的第一视区中确定出存在所述微观缺陷的位置，并对该位置进行标记；所述第二视区的面积小于所述第一视区的面积。
法律状态
法律状态公告日
2018-11-23 2018-11-23 2018-12-18
法律状态信息
公开 公开
实质审查的生效
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公开 公开
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权利要求说明书
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微观缺陷检测装置及检测方法、显微镜
