基于STM32的Flash存储器坏块自动检测①

基于STM32的Flash存储器坏块自动检测①

佚名

【期刊名称】《《计算机系统应用》》 【年(卷),期】2013(000)006

【摘要】 针对Nand Flash存储器存在坏块的问题，提出一种基于STM32的Flash存储器坏块自动检测方法，通过STM32内部可变静态存储控制器，发出相应的数据、地址、控制信号，在不增加外部器件的情况下，快速访问Flash存储器，并给出了部分硬件电路和C语言编写的程序代码。该设计已成功实现自动检测Flash坏块的功能；操作简单、检测速度快、准确率高；并能读取Flash的ID号检测Flash性能，同时能够存储和读取2GB数据。 【总页数】4页(209-211,215)

【关键词】Nand Flash; 自动检测; STM32; 可变静态存储控制器; 串口通讯 【作者】佚名 【作者单位】 【正文语种】中文 【中图分类】 【相关文献】

1.基于STM32的Flash存储器坏块自动检测 [J], 张亚辉; 马胜前

2.基于STM32的水中汞含量自动检测系统的设计 [J], 沈海磊; 边超; 佟建华; 李洋; 夏善红

3.基于STM32的螺母自动检测分选机设计 [J], 张静雅; 罗昱文; 符茂胜 4.基于STM32的室内有害气体自动检测与排风系统 [J], 张明哲; 王哲

5.基于STM32的脉搏自动检测系统设计 [J], 林松华; 王战庆; 汪文海; 贺发文; 许荣谊; 尤明辉

以上内容为文献基本信息，获取文献全文请下载