星载65nm抗辐射GNSS接收机ASIC的SEFI实验方法

星载65 nm抗辐射GNSS接收机ASIC的SEFI实验方法

李梦良，乐立鹏，张建军，郑宏超

【摘 要】在抗辐射GNSS接收机的研发过程中，由于 Xilinx 600万门FPGA在轨单粒子翻转（Single Event Upset，SEU）效应严重，而自主研发抗辐射GNSS接收机ASIC是最有效的解决办法。以航天五院重点型号项目“XX-2”项目为依托，在国内首次采用 65 nm抗辐射工艺，用单个ASIC芯片实现了 1 200万门规模的星载抗辐射 GNSS接收机 ASIC。但是，对此款新工艺/大规模/功能复杂的ASIC芯片进行单粒子功能中断测定是一个难题。通过在FPGA上模拟GNSS数字中频信号和DSP配置输入，然后由芯片的EMIF接口实时读取芯片内部关键数据来进行SEU/SEFI的判断，并设计了SEFI判断准则和相应的辐照实验实现方案。 【期刊名称】电子技术应用 【年(卷),期】2017(043)001 【总页数】5

【关键词】GNSS接收机；EMIF接口；辐照实验；单粒子功能中断（SEFI）

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全球导航卫星系统(Global Navigation Satellite System，GNSS)是所有卫星导航系统的统称，包括美国的GPS、中国的北斗、俄罗斯的格洛纳斯以及欧盟的伽利略，它是面向全球的，利用其中一个或者多个系统的无线电导航信号，为空间和地面用户提供定位、定时、测距、导航等服务。随着全球导航卫星系统及其相关产业的不断发展，GNSS技术得到了越来越广泛的应用，而随之不断提升的是用户对于GNSS终端性能的要求，特别是功耗、性能、体积方面的