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X射线衍射实验报告资料

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中 南 大 学材料科学与工程 学院 X射线衍射实验报告 材料国际 专业 学号 05 月 0605140118 1401 班级 同组者 指导教师 黄继武 评阅日期 姓 名 实验日期 评分 蔡云伟 2016 年 18 日 分 评阅人 一、 实验目的 1) 掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法; 2) 掌握X射线衍射实验的样品制备方法; 3) 学会X射线衍射实验方法、实验参数设置,独立完成一个衍射实验测试; 4) 学会MDI Jade 6的基本操作方法; 5) 学会物相定性分析的原理和利用Jade进行物相鉴定的方法; 6) 学会物相定量分析的原理和利用Jade进行物相定量的方法。 本实验由衍射仪操作、物相定性分析、物相定量分析三个独立的实验组成,实验报告包含以上三个实验内容。 二、 实验原理 根据布拉格定律,我们可以知道,只有在特殊的入射角度时我们才能得到衍射图像。所以,根据这一原理,我们在使用了把X射线和探测器放在环形导轨上的方法,把每个方向的结果都探测一遍,最终收集到能发生衍射的衍射峰。根据结果,推算晶面,判断晶体构型,判断元素种类。 三、 仪器与材料 1) 仪器:18KW转靶X射线衍射仪 2) 数据处理软件:数据采集与处理终端与数据分析软件MDI Jade 6 3) 实验材料: WC(碳化钨)、LiCoOSi 四、 实验步骤 1 测量数据 1) 准备样品; 2) 打开X射线衍射仪; 3) 按下“Door”按钮,听到报警; 4) 向右拉开“常规衍射仪门”,装好样品; 5) 向左轻拉“常规衍射仪门”,使之合上; 6) 打开“控制测量”程序,输入实验条件和样品名,开始测量; 表1 实验参数设定: 仪器 扫描范围 扫描度 电压 电流 D/max 2500型X射线衍射仪 10-80 8°/min 40KV 250mA 7) 按相同的实验条件测量其它样品的衍射数据。 2 物相鉴定 1) 打开Jade,读入衍射数据文件; 2) 鼠标右键点击S/M工具按钮,进入“Search/Match”对话界面; 3) 选择“Chemistry filter”,进入元素限定对话框,选中样品中的元素名称,然后点击OK返回对话框,再点击OK; 4) 从物相匹配表中选中样品中存在的物相。在所选定的物相名称上双击鼠标,显示PDF卡片,按下Save按钮,保存PDF卡片数据; 5) 在主要相鉴定完成后,对剩余未鉴定的衍射峰涂峰,做“Search/Match”,直至全部物相鉴定出来。 6) 鼠标右键点击“打印机”图标,显示打印结果,按下“Save”按钮,输出物相鉴定结果。 7) 以同样的方法标定其它样品的物相,物相鉴定实验完成。 3 物相定量分析 1) 在Jade窗口中,打开一个多相样品的衍射谱; 2) 完成多相样品的物相鉴定,物相鉴定时,选择有RIR值的PDF卡片; 3) 选择每个物相的主要未重叠的衍射峰进行拟合,求出衍射峰面积; 4) 选择菜单“Options|Easy Quantitative”,按绝热法计算样品中两相的重量百分数; 5) 按下“Save”按钮,保存定量分析结果,定量分析数据处理完成。 计算公式: aaKAlRIRIaK?b2O3?W?, aba (Ia?IbKb)KAl2O3RIRab 五 实验数据处理 1 物相鉴定结果 2 定量分析结果 (1)WC USER: user JADE: Quantitative Analysis from Profile-Fitted Peaks DATE: Thursday, Jan 01, 2004 01:16a FILE: [005 WC.raw] SCAN: 25.0/125.0/0.02/1(sec), Cu(40kV,250mA), I(max)=40668, 10-28-10 13:19 PROC: [New Quantitative Analysis] Phase ID (2) Chemical Formula RIR Dx MAC LAC Wt% Wt(n)% Vol(n)% #L I%-I(r) {Area} {Height} Tungsten Carbide WC 15.71 15.672 161.73 2534.7 82.0 (4.2) 82.0 (4.2) 83.3 (5.7) 1 0.0 479781(21469) 30158(1046) Tungsten carbide - $-epsilon W2C 10.80 17.162 166.70 2861.0 18.0 (0.9) 18.0 (0.9) 16.7 (1.1) 1 0.0 72427(1893) 6967(142) 2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l) 35.616 (0.004) 0.213 (0.012) 30158 (1046) 100.0 479781 (21469) 100.0 100.0 100.0 0.0 ( 1 0 0) 2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l) 39.547 (0.002) 0.148 (0.005) 6967 (142) 100.0 72427 (1894) 100.0 100.0 100.0 0.0 (-1-1 1) (2)LiCoOSi USER: user JADE: Quantitative Analysis from Profile-Fitted Peaks DATE: Thursday, Jan 01, 2004 01:04a FILE: [LiCoOSi (39).raw] SCAN: 10.0/80.0/0.02/1(sec), Cu(40kV,250mA), I(max)=8718, 08-27-13 13:27 PROC: [New Quantitative Analysis] Phase ID (2) Chemical Formula RIR Dx MAC LAC Wt% Wt(n)% Vol(n)% #L I%-I(r) {Area} {Height} Lithium cobalt(III) oxide LiCoO2 4.38 5.049 192.28 970.8 48.3 (4.1) 48.3 (4.1) 30.1 (3.2) 1 0.0 44727(2619) 5010(263) Silicon Si 4.55 2.329 60.60 141.1 51.7 (4.4) 51.7 (4.4) 69.9 (7.5) 1 0.0 49763(3069) 6558(343) 2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l) 18.897 (0.005) 0.144 (0.007) 5010 (263) 100.0 44727 (2620) 100.0 100.0 100.0 0.0 ( 0 0 3) 2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l) 28.409 (0.005) 0.131 (0.006) 6558 (343) 100.0 49763 (3070) 100.0 100.0 100.0 0.0 ( 1 1 1) 3 点阵常数精确测定结果 Tungsten Carbide - WC W2C Tungsten Carbide=82.0%W2C=18.0%Wt%Quantitative Analysis from Profile-Fitted PeaksLiCoO2 Silicon - Si LiCoO2=48.3% Wt%Silicon=51.7%Quantitative Analysis from Profile-Fitted Peaks

X射线衍射实验报告资料

中南大学材料科学与工程学院X射线衍射实验报告材料国际专业学号05月06051401181401班级同组者指导教师黄继武评阅日期姓名实验日期评分蔡云伟2016年18日分评阅人一、实验目的1)掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法;2)掌握X射线衍射实验的样品制备方法;3)学会X射线衍射实验方法、实验
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