一种新型的非接触式掩膜板台阶高度测量仪
林德教;柳忠尧;徐毅;殷纯永
【期刊名称】《计量学报》 【年(卷),期】2004(025)001
【摘要】提出一种外差干涉与共焦显微技术融合用于微电子掩膜板台阶高度测量的方法,同时实现了高分辨率(亚纳米)与较大量程(5 μm以上)测量,构成了双频干涉共焦显微系统DICM.实验比较了3组物镜数值孔径NA、放大倍数β条件下的共焦显微系统轴向响应曲线,证实了纯共焦方法在轴向分辨率提高方面的局限性,但其光强变化足以区分干涉条纹的级次.将该系统应用于微电子掩模板台阶高度标准的测量,实验表明DICM的测量值与国际比对结果相符合,系统具有良好的复现性,极限偏差小于5 nm. 【总页数】5页(1-5)
【关键词】计量学;微电子掩模板;共焦显微术;外差测相;轴向响应 【作者】林德教;柳忠尧;徐毅;殷纯永
【作者单位】清华大学精密仪器系,北京,100084;清华大学精密仪器系,北京,100084;中国计量科学研究院,北京,100013;清华大学精密仪器系,北京,100084 【正文语种】中文 【中图分类】TB92 【相关文献】
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一种新型的非接触式掩膜板台阶高度测量仪
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