智能卡测试系统技术指标

智能卡测试系统技术指标

智能卡测试系统包含非接触式智能卡测试模块、接触式智能卡测试模块和 接触式智能卡协议分析模块。

非接触式智能卡测试模块

技术指标 要求 提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据自动化测试和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO14443协平台 议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7. 测试环境 测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台 可以与其他接触式卡及读卡器测试套件同步运用 模拟非接触式卡片测试仪，支持ISO14443的Type A, Type B, T=CL协议以及防碰撞，支持数据速率为106, 212, 424, 828kbps 支持Innovatron协议 支持ISO/IEC15693协议，可选数据速率有高速和低速，采用的编码模式为1-4和1-256字节. 主要功能要求 支持Mifare协议，支持的类型有classic， light， Ultra light， Ultra light C 支持FeliCa协议，支持的数据速率为212-424kbps 支持NFC测试，遵守NFC Forum规范，支持的测试传输模式为：tag模式（tag1-tag4），读写模式，对等模式。支持的数据传输速率为106,212,和424kbps 底层数据扑捉和解析 即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧 物理参数 可编程参磁场强度可调 调幅指数，从0%-100% 1

支持USB、TCP/IP、RS232三种通信接口，操作系统为Windows，以达到良好的驱动兼容性

数 场强上升时间，0-5ms 载波频率，12.56MHz-14.56MHz 调制的上升或下降时间，0-10us 逻辑参数 Type A的暂停时间范围，0-4.4ms 帧等待时间ETU可调 Type B的帧时钟周期可调 传输速度为106, 212, 424, 848kbps 电气测试 可进行共振频率的测试其范围为11-24MHz 可进行芯片阻抗测试，在13.56MHz的条件下实际测量 可进行磁场测量其范围为0-8A/m 可进行EMD测试 逻辑测试 自动测试 其分为以下几部分： 发送Type A的指令，等待处理判断，发送Type B的指令并接收应答（对于Type B卡）; 发送Type B的指令，等待处理判断，发送Type A的指令等待应答（对于Type A卡） 转换磁场，等待判断，发送（A或B的指令），接收应答 发送请求，等待，发送请求，接收应答 防撕裂 PICC重置表征 监测最小的FDT 逻辑测试 通过API控制测试 响应时间的测量（FDT, TR0， TR1） 发送的标准帧 发送畸形的块（错误的比特数） 距离的模拟检测 2

可进行的测试

分离RX通道允许通信使用射频放大器 传统调制比率可测 触发器 测试仪提供多种触发器，同步的或由外部实验设备进行同步 可用元素, MPSDK.Net库，通信Dll 软件开发 支持的开发语言：C, C++, VB, .NET 等任何支持Dll的开发语言。

接触式智能卡测试模块

技术指标 要求 提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据自动化测试和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协平台 议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7. 测试环境 可二次开发的测试平台，可集成到客户自己的测试平台 可以与其他非接触式卡及读卡器测试设备同步运用 支持协议ISO7816-3，T=0和T=1协议 MicroSmart技术实现硬件加速传输和接收的字符 支持USB 2.0, ISO/IEC 7816-12大批量存储以及自定义的协议 支持SWP协议，满足规范ETSI TS 102 613和TS 102 622，支持SWP，主要功能要求 同步芯片存储晶体 可用的库包括T2G, Eurochip, SLE4442, SLE4407, AT24CXX 可实现自定义协议的开发 可实现硬件加速 HCI层 支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows，以达到良好的通讯兼容性 3