TL431失效分析-操作不当引起的重大隐患
TL431失效分析
1、客户描述:输出电压低,不稳压,电压跳动; 2、失效器件分析结果:芯片烧毁,引线阻性碳化;
3、客户要求:提供维修后的样机一个,要求验证失效类型;
4、样机描述:电源规格为28v1.5a产品,光耦PC817和TL431有拆焊痕迹,其中TL431虽
然有拆焊过,但还是原来PCB板上的器件,经后续装机测试为正品,见右上角照片,批号为:009168060。
5、建立测试验证模型:输入电压220V-MAX60W,输出负载100Ω30W,示波器单通道观察
输出电压波形,测量结果以照片形式提供;
6、原理图:
恕不提供,受保密条例限制。
7、备注:上图中的第四点描述错误,更正为:此时KA之间的电压为电源电压,光耦失电后前级不受控,典型表现为C点电压升高,因C点电压升高,TL431基准端电压上升,控制KA端最大导通状态,KA之间等效为短路状态,无法承受C点的高压大电流而瞬间烧毁;
8、验证参考PCB板:见如下图片和标注点;
9、验证过程:见图片和文字描述; 【图片一】:正常输出波形,电压为直流28.2V。
【图片二】:当A点和B点瞬间短路后,输出为跳动间隔为2.1秒的脉冲5.32V;坏TL431;
芯片解剖图:KA严重烧毁,引线轻微碳化—功率输出三极管损毁
【图片三】:当D点和E点瞬间短路后,输出为跳动间隔为2.1秒的脉冲6.32V;坏TL431;
芯片解剖图:--RA严重烧毁—
【图片四】:当D点和C点瞬间短路后,输出为跳动间隔为5秒的脉冲40.0V,坏光耦;
芯片解剖图:--芯片正常,产品参数正常—
10、验证结果:数字表测量全部表现为输出电压低,不稳压,电压跳动;
1.当A点和B点瞬间短路后,输出为跳动间隔为2.1秒的脉冲5.32V;损坏TL431; 2.当D点和E点瞬间短路后,输出为跳动间隔为2.1秒的脉冲6.32V;损坏TL431;