并行总线信号质量&信号完整性测试方法与规范

FLASH芯片信号完整性测试指导书 功能: 信号完整性 阶段:验证 文档版本: 发布日期:

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目录

1. 目的 .................................................................................................................................................................... 4 2. 适用范围 ............................................................................................................................................................ 4 3. 测量设备 ............................................................................................................................................................ 4 4. 参考文件 ............................................................................................................................................................ 4 5. 注意事项 ............................................................................................................................................................ 4 6测试项目 ............................................................................................................................................................. 5 7. 操作步骤 ............................................................................................................................................................ 7

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※ ※ 修 订 履 历 ※ ※

REV. 修 订 内 容 发行日期 备 注

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1. 目的

依照规格手册，介绍和规范在测量FLASH信号时的操作。

2. 适用范围

用于产品在做信号完整性量测。

3. 测量设备

Tektronix TDS 3034 Qty=1 Tektronix P6139 Probe Qty=3

4. 参考文件

4.1《TDS3034 操作手册》

4.2 相关测试点位组件的DATASHEET,线路图等。

5. 注意事项

5.1 确认测试人员静电环接触良好 5.2 在测量时应检查示波器是否运行正常 5.3 检查信号连接是否正确，接地是否合理 5.4 确定待测系统SUT 是否工作在预定的模式

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5.5 为保证量测的准确性，测量中请用探头直接连接测量点，如确有必要，连接探头和测量的传输线及信号接地线不能超过0.5英寸。

5.6 如量测结果超出规格﹐ 须再次确认测量点与芯片规格﹐确认测量条件及测量方法无误后，更换PCBA板测量，若量测结果仍为Fail，则定性为Bug并与相关人员确认。

6测试项目

信号 测试项 Vih (高电平幅值) Vil (低电平幅值)) Tr (上升时间) Tf (下降时间) 数据建立时间Tds 数据保持时间Tdh Overshoot Undershoot 毛刺 Vih (高电平幅值) Vil (低电平幅值)) Tr (上升时间) Tf (下降时间) 地址建立时间Tas 地址保持时间Tah Overshoot Undershoot 毛刺 Vih (高电平幅值) Vil (低电平幅值)) Tr (上升时间) Tf (下降时间) 控制信号建立时间Tcs 控制信号保持时间Tch Overshoot Undershoot 毛刺 Vih (高电平幅值) Vil (低电平幅值)) 复位信号脉宽 Overshoot Undershoot 毛刺 测试点 预期结果 备注 数据信号 数据信号宿端 地址信号 Flash芯片地址管脚 1、 符合芯片规格书的要求 2、 符合《信号质量测试通用规范（v1.0）》第5小节要求 “预期结果”中，信号的质量首先要符合芯片规格书的要求；如果芯片规格书对该测试项没有具体规定时，请参考公司《信号质量测试通用规范（v1.0）》判定标准。 控制信号(WE/OE/CE) Flash芯片控制管脚 复位信号 Flash芯片RST脚 注：Flash数据信号的读和写测试项目是一样的，但需区别测试点（信号宿端）所以不再分开列表说明。

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