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硬件电子电路基础

关于本课程

第一章 半导体器件

§1-1 半导体基础知识 §1-2 PN 结

§1-3 二极管

§1-4 晶体三极管

§1-5 场效应管

第二章 基本放大电路

§ 2-1 § 2-2

晶体三极管基本放大电路 反馈放大器的基本概念

§ 2-3 频率特性的分析法 § 2-4 小信号选频放大电路 § 2-5 场效应管放大电路

第三章 模拟集成电路

§ 3-1 恒流源电路 § 3-2 差动放大电路 § 3-3 集成运算放大电路 § 3-4 集成运放的应用

§ 3-5 限幅器(二极管接于运放输入电路中的限幅器) § 3-6 模拟乘法器

第四章 功率放大电路

§ 4-1 功率放大电路的主要特点 § 4-2 乙类功率放大电路 § 4-3 丙类功率放大电路 § 4-4 丙类谐振倍频电路

第五章 正弦波振荡器

§ 5-1 反馈型正弦波振荡器的工作原理 § 5-2 LC 正弦波振荡电路 § 5-3 LC 振荡器的频率稳定度 § 5-4 石英晶体振荡器 § 5-5 RC 正弦波振荡器

第六章 线性频率变换 ── 振幅调制、检波、变频

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§6-1 调幅波的基本特性

§6-2 调幅电路

§6-3 检波电路

§6-4 变频

第七章 非线性频率变换 ── 角度调制与解调

§7-1 概述

§7-2 调角信号分析

§7-3 调频及调相信号的产生

§7-4 频率解调的基本原理和方法

第八章 反馈控制电路

§ 8-1 自动增益控制( AGC) § 8-2 自动频率控制( AFC) § 8-3 自动相位控制( APC)PLL

第一章 半导体器件

§1- 半导体基础知识

§1-2 PN 结

§1-3 二极管

§1-4 晶体三极管

§1-5 场效应管

§1- 半导体基础知识

一、什么是半导体

半导体就是导电能力介于导体和绝缘体之间的物质。(导电能力即电导率)

(如:硅 Si

锗 Ge等+ 4 价元素以及化合物)

二、半导体的导电特性

本征半导体――纯净、晶体结构完整的半导体称为本征半导体。

硅和锗的共价键结构。(略)

1、 半导体的导电率会在外界因素作用下发生变化

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掺杂──管子

温度──热敏元件 光照──光敏元件等

2、 半导体中的两种载流子──自由电子和空穴

自由电子──受束缚的电子 (-) 空穴 ──电子跳走以后留下的坑 (+)

三、杂质半导体──N 型、 P 型

(前讲)掺杂可以显著地改变半导体的导电特性,从而制造出杂质半导体。

N 型半导体

(自由电子多)

掺杂为+ 5 价元素。

如:磷;砷 P──+ 5 价 使自由电子大大增加

原理:

Si──+ 4 价 P 与 Si 形成共价键后多余了一个电子。

载流子组成:

本征激发的空穴和自由电子──数量少。 o 掺杂后由 P 提供的自由电子──数量多。 o 空 穴──少子

o 自由电子──多子

o

P 型半导体 (空穴多)

掺杂为+ 3 价元素。

如:硼;铝 使空穴大大增加

原理:

Si──+ 4 价 B 与 Si 形成共价键后多余了一个空穴。

B──+ 3 价

载流子组成:

o o o o

本征激发的空穴和自由电子──数量少。 掺杂后由 B 提供的空 穴──数量多。 空 穴──多子 自由电子──少子

结论: N 型半导体中的多数载流子为自由电子;

P 型半导体中的多数载流子为

空穴 。

§1-2 PN 结

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一、 PN 结的基本原理

1、 什么是 PN 结

将一块 P 型半导体和一块 N 型半导体紧密第结合在一起时,交界面两侧的那部分区域。

2、 PN 结的结构

分界面上的情况:

P 区:

空穴多

N 区: 自由电子多

扩散运动:

多的往少的那去,并被复合掉。留下了正、负离子。

(正、负离子不能移动)

留下了一个正、负离子区──耗尽区。

由正、负离子区形成了一个内建电场(即势垒高度)。

方向: N--> P

大小: 与材料和温度有关。 (很小,约零点几伏)

漂移运动:

由于内建电场的吸引,个别少数载流子受电场力的作用与多子运动方向相反作运动。

结论:在没有外加电压的情况下,扩散电流和漂移电流的大小相等,方向相反。总电流为

零。

二、 PN 结的单向导电特性

1、 外加正向电压时:(正偏)

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结论:

势垒高度

PN 结宽度(耗尽区宽度) 扩散电流

2、 外加反向电压时: (反偏)

结论:

势垒高度

PN 结宽度(耗尽区宽度)

此时总电流=反向饱和电流(漂移电流):

扩散电流 (趋近于 0)

I 5

注:反向饱和电流 I5 只与温度有关,与外加电压无关。

【 PN 结的反向击穿】:

齐纳击穿:势垒区窄,较高的反向电压形成的内建电场将价电子拉出共价键,导致反向电流剧增。 < 4V

雪崩击穿:势垒区宽,载流子穿过 PN 结时间长,速度高,将价电子从共价键中撞出来, 撞出来的电子再去撞别的价电子,导致反向电流剧增。 >7V

当反向电压在 4V 和 7V 之间的时候,两种击穿均有。

【 PN 结的电容效应】:

势垒电容:外加电压变化引起势垒区宽窄的变化引起。它与平行板电热器在外加电压作用下,电容极板上积累电荷情况相似。对外等效为非线性微变电容。(反偏减小,正偏增大)

扩散电容:当 PN 结外加正向电压时,由于扩散作用,从另一方向本方注入少子,少子注入后,将破坏半导体的电中性。为了维持电中性,将会有相同数量的异性载流子从外电路进入半导体,在半导体中形成空穴-电子对储存。外电压增量引起空穴-电子对存储就象电容充电一样。

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