石墨烯结构与德拜温度因子的电子衍射分析
孙旭东;周明;秦禄昌
【期刊名称】《电子显微学报》 【年(卷),期】2013(032)003
【摘要】In this study the ratio of the (100) and (110) reflection intensities of graphene for analyzing the number of layers in graphene material was calculated.The results show that the number of layers can be deduced from electron diffraction patterns with examples involving single,double,and triple-layer graphene structures.I can also be deduced from their respective electron diffraction patterns that the Debye-Waller factors for single-layer,double-layer,and triple-layer graphene are 0.0462、0.0368,and 0.0372 nm2.%本文通过计算少层石墨烯的(100)与(110)的电子衍射的衍射强度比值,确定其衍射强度比值与石墨烯层数的关系.并应用透射电子显微镜(TEM)对石墨烯样品进行选区电子衍射实验,分析电子衍射图上的衍射强度比值关系.结果表明,(100)与(110)衍射的强度比值可以成为判别少层石墨烯层数的一种有效实验方法.此外,还应用实验测量数据导出室温下(～300 K)单层石墨烯、两层石墨烯、三层石墨烯的德拜温度因子分别为0.0462、0.0368、0.0372 nm2.
【总页数】5页(206-210)
【关键词】石墨烯;电子衍射;德拜因子 【作者】孙旭东;周明;秦禄昌
【作者单位】中国科学院宁波材料技术与工程研究所,浙江宁波315201;中国科
学院宁波材料技术与工程研究所,浙江宁波315201;中国科学院宁波材料技术与工程研究所,浙江宁波315201;University of North Carolina at Chapel Hill, Chapel Hill, NC 27599-3255, USA 【正文语种】中文
【中图分类】TB383;TG115.21+5.3;TG115.23 【相关文献】
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石墨烯结构与德拜温度因子的电子衍射分析
