用于X射线衍射分析的方法和装置

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利说明书

（21）申请号 CN200610078610.9 （22）申请日 2006.04.26

（71）申请人 弗·哈夫曼·拉罗切有限公司

地址 瑞士巴塞尔

（10）申请公布号 CN1858583B （43）申请公布日 2012.07.11

（72）发明人 O·格拉斯曼;M·亨尼格;R·A·霍彻特拉瑟尔;U·施维特 （74）专利代理机构 北京市中咨律师事务所

代理人 吴鹏

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

用于X射线衍射分析的方法和装置

（57）摘要

本发明涉及用于X射线衍射分析的方

法和装置。一种用于利用包括X射线辐射源和检测器的装置对样品进行透射模式X射线衍射分析的方法，该方法包括：(a)将待分析样品放置在基底上；(b)产生带形X射线射束，该射束的中心部分沿平面延伸；(c)将基底从而将样品定位在初始位置，其中所述样品位于射束的路径中，并且射束照射样品的薄片；(d)使基底相对于上述初始位置作如下运动：(d.1)使基底从而使样品绕转动轴线转动，该转动轴线垂直于基底，该转动覆盖预

定的转动角，以及(d.2)使基底从而使样品绕倾斜轴线在倾斜角的范围内倾斜；以及(e)在使基底作上述运动的时段期间使用检测器检测透射穿过样品和被样品衍射的X射线辐射。 法律状态

法律状态公告日

2006-11-08 2008-07-02 2012-07-11

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权

法律状态

公开

实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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