哈工程电磁兼容3 - 图文 

(2)归一化场地衰减半电波暗室的主要指标仍为归一化场地衰减。其测试原理与方法基本上与开阔场相同。主要的不同点在于，发射天线的位置应放在转台的中心以及前后左右共五个位置，并且每种极化均需在两个高度上进行。即对于每个频点应测量20个数据。在有关标准中提供的理论计算值，在30～1000MHz频率范围内共27个频点。则总测量数据为540个，每个数据均需将接收天线在高度上至少扫描一次。合格判定仍为±4dB准则。

半电波暗室NAS测量的天线位置，垂直极化 半电波暗室NSA测量的天线位置，水平极化

(3)辐射抗扰度测量的场均匀域

均匀域的尺寸1 8 9 16 0,5 m 2 7 10 Antenna 15 0,5 m 1,5 m 14 0,5 m 3 6 11 1,55 m 4 5 0,5 m 12 0,5 m 1,5 m 13 0,5 m 0,8 m Floor

4.全电波暗室半电波暗室在进行辐射发射测量时，为了使直射波与反射波相位相同、辐度相加的信号，接收天线必须在空间上下扫描，这样的测量十分耗时。并且由于天线扫描，使暗室的高度亦需大大提高。例如对于3m、10m测量距离，接收天线需在1～4m高度上扫描，则暗室净高度应达到6m左右，如再考虑角锥吸波材料，则屏蔽壳体的天花板至少高7～8m。这将大大增加设施的造价。因此，近年来在国际上提出了采用全电波暗室进行辐射发射测量，即将地面也铺以吸波材料，以保证没有从地面的反射波。

幻灯片 31