液晶材料金属元素检测方法

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利说明

（21）申请号 CN201510449649.6 （22）申请日 2015.07.28

（71）申请人 深圳市华星光电技术有限公司

地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

（10）申请公布号 CN105158323B

（43）申请公布日 2024.10.19

书

（72）发明人 张维维;徐蕊

（74）专利代理机构 广州三环专利商标代理有限公司

代理人 郝传鑫

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

液晶材料金属元素检测方法

（57）摘要

本发明公开一种液晶材料金属元素检测方

法，包括如下步骤：样品取样：将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别用刮刀刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶用天平精确称重得到检测样品；样品前处理：采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8～12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。本发明的液晶材料金属元素检测方法可

以快速、准确地分析液晶中金属元素浓度。

法律状态

法律状态公告日

2015-12-16 2015-12-16 2016-01-13 2016-01-13 2024-10-19

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

法律状态

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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