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光耦IC进料检验作业指导书.doc

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★ KSTAR & 深圳科士达科技股份有限公司

Shenzhen Kstar Science And Technology Co.,Ltd?

拟制

徐洋

副本分 发范

总经理

国 及份数

管理代表

IC/光耦进料检验作业指导书 文件编号:SZK-CB-O1-O1 版 本:制定部门:品保部 总页数:3页

会审

(此栏签名代表本人已阅读并完全理解本文件规定的全部内

容,并承诺贯彻职责相关的内容)

品保

研发

生产

工程

行政

人资

采购

商务

客服

1份

D 批准

资材

品保

国际营销

修订履历

页次 修改内容

版本/版次

修改日期 1-2 修改指导书格式及内容 B 2005-9-20 1-2 对尺寸检验部分进行明确定义 C 2007-5-24 1-3

1. 将公司名称由深圳科士达科技发 展有D/0

2010-3-4

限公司修改为深圳科士达科技 股份有限公司。

2. 将一、2.检验依据规格承认书修改 为零件规格书。

1-3

1.修改抽样水准

D/1 2010-6-24

一.检验技术要求

1. 按GB2828正常一次抽样II级抽样标准进行抽样,AQL接收质量限:

修改人 张林 邓小燕 徐洋

徐洋 批准人 聂剑锋 刘杰 胡礼辉

胡礼辉

CR: 0

MAJ: 0.4

MIN: 1.0

2. 检验依据:检验指导书、样品、零件规格书

3. 检验条件:室温25±8°C, 60W日光灯或常光下的环境进行检验 二、检验测试 检验项目

检验内容

检验方 法

不合格类别

1.包装检 验

2.外观检 验

3.尺寸检 验 5.可焊性

检测

1?1?外包装上物料名称、型号是否与箱内物料一致

1.2.外包装变形、破损、潮湿、脏污导致产品损坏

3?包装方式不正确,产品没有保护导致产品损坏、引 脚脱落、变形

2.1.丝印、品牌标示是否与规格书一致

2. 2.丝印缺点、缺画、脱落、模糊不可辨认 2. 3.丝印缺点、缺画、脱落、模糊可辨认 2. 5.引脚脱落、变形 2. 6.引脚氧化、发黑影响上锡 2. 7.引脚氧化、发黑不影响上锡 2.8.本体破损、残缺、划伤露岀金属

3. 1.对照规格书测量其本体尺寸即本体的长.宽、脚距, 确认是

否与规格书相符(注:贴片类抽检20PCS做测 试测量长、宽、高及焊盘尺寸)

5. 1.取2-5PCS IC将引脚放入270±5°C的锡炉浸锡 2-3SEC后检查引脚上锡覆盖面积是否在95%以上

/

目视 目视 目视

目视 目视 目视 目视 目视 目视 目视 卡尺

锡炉

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光耦IC进料检验作业指导书.doc

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