CMOS反相器的电磁干扰频率效应
陈杰;杜正伟
【期刊名称】《强激光与粒子束》 【年(卷),期】2012(024)001
【摘要】利用自主开发的2维半导体器件-电路联合仿真器,研究了CMOS反相器在1 MHz～20 GHz电磁干扰作用下的响应.仿真结果表明:低频电磁干扰通过控制CMOS反相器中MOS管的导通、截止影响CMOS反相器的正常工作;高频电磁干扰通过MOS管中的本征电容耦合到输出端,干扰CMOS反相器的工作状态;CMOS反相器对于电磁干扰的敏感度随着干扰频率上升而不断降低.%The effects of electromagnetic interference with increasing frequencies from 1 MHz to 20 GHz on CMOS inverter have been studied using our two dimensional mixed-level circuit and semiconductor device simulator. The simulation results show that the channel of MOS devices could be formed or cutoff deliberately by electromagnetic interference at the lower frequency range. As a result, the normal operation of CMOS inverter is disturbed. Electromagnetic interference at the higher frequency range could couple to the output through the small intrinsic capacitances in MOS devices to upset the operation of CMOS inverter. Moreover, electromagnetic interference at the lower frequency range causes greater upsets than that at the higher frequency range.
【总页数】5页(147-151)
【关键词】CMOS反相器;器件物理模拟;电磁干扰;翻转;耦合 【作者】陈杰;杜正伟
【作者单位】清华大学电子工程系,微波与数字通信技术国家重点实验室,北京100084;清华大学电子工程系,微波与数字通信技术国家重点实验室,北京100084
【正文语种】中文 【中图分类】TN386.1 【文献来源】
https://www.zhangqiaokeyan.com/academic-journal-cn_high-power-laser-particle-beams_thesis/0201236545524.html 【相关文献】
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CMOS反相器的电磁干扰频率效应
