电子元器件检验规范标准书
修订 日期 2011/03/30 修订 单号 / 修订内容摘要
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部分电子元器件检验规范标准书
IC 类检验规范 ( 包括 BGA)
1. 目的
作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。
2. 围
适 用 范
适用于本公司所有 IC （包括 BGA）之检验。
3. 划
抽 样 计
依 MIL-STD-105E ，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允收水 准
严重缺点 (CR): 0;
主要缺点 (MA): ;
（ AQL）
5.
次要缺点 (MI): .
参 考 文
无
件 检验项目
缺陷属性
缺陷描述 检验方式
备注 a. 根据来料送检单核对外包装或
MA
LABEL上的 P/N 及实物是否
包装检验
都正确 , 任何有误 , 均不可接受。 b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 a. 实际包装数量与 受；
目检
Label 上的数量是否相同 , 若不同不可接
目检 点数
数量检验
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合 接
, 若不吻合不可
受。
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； c.
MA
本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
目检或 检验时，必须佩 10 倍以上 的放大镜
带静电带。 外观检验
d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超
过, 且未露出基质 , 可接受；否则不可接受； e. Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； f.
元件脚弯曲，偏位 , 缺损或少脚，均不可接受；
IC ，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，
备注：凡用于真空完全密闭方式包装的 IQC 仅进行包装检验，并加盖免
检印章；该 IC 在 SMT上拉前 IQC 须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
20%RH对应的位置有没有变成粉红色，
（三）贴片元件检验规范 ( 电容 , 电阻 , 电感 )
1. 目的
便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。
2. 围
适 用 范
适用于本公司所有贴片元件（电容
, 电阻 , 电感 ）之检验。 3. 划
抽 样 计
依 MIL-STD-105E ，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》 。 严重缺点 (CR): 0;
4. 允收水 准
主要缺点 (MA): ;
（ AQL）
次要缺点 (MI): .
5.
件
参 考 文 《LCR数字电桥操作指引》
《数字万用表操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
a.
根据来料送检单核对外包装或
LABEL 上的 P/N 及实物是
否都
检验方式
备注
包装检验
MA
正确 , 任何有误 , 均不可接受。
目检
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
数量检验
MA
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同 , 若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合, 若不吻合不可接受。 a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受； b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
目检
点数
目检 10 倍以上的放
其面积不超过 , 且未
大镜
检验时，必须佩带静电带。
外观检验
MA
d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔， 露出基质 , 可接受；否则不可接受； e. Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
检验时，必 MA元件实际测量值超出偏差范围内 .
LCR测试仪 数字万用表
须佩带静电 带。
电性检验
二极管类型 检 测 方 法
选择数字万用表的二极管档，正向测量，
LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极
LED
管不合格。
注：有标记的一端为负极。
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于
其它二极管
注：有颜色标记的一端为负极。
1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。
抽样计划说明：对于
CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
盘中取 3~5pcs 元件进行检测； AQL不变。检验方法见＂ LCR数字电桥测试仪操作
备注
指引＂ 和＂
数字万用表操作指引＂。
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