基于双光纤耦合的微深孔测量方法
崔继文;谭久彬;刘洋
【期刊名称】《红外与激光工程》 【年(卷),期】2009(038)001
【摘要】为了解决微深孔的精密测量问题,介绍了一种基于双光纤耦合原理的微深孔测量方法.该方法属于瞄准触发式测量方法,通过双光纤耦合器及显微物镜将光纤传感器触测头在微深孔内的微小位移量转变为CCD图像捕捉系统的横向位移量,利用图像空间定位算法得到CCD上的光斑中心位置.由CCD上光斑能量中心位置与传感器触测点在空间位置的一一对应关系即可得出传感器触测头在孔内部与孔壁的接触状况,从而实现对被测孔测量时的高精度瞄准.光纤传感器瞄准后将发出信号给测量长装置,如双频激光干涉仪,以实现对微深孔的精密测量.最后运用该方法对直径为0.2 mm、深2.0 mm深盲孔的直径进行了测量,其测量结果的重复不确定度优于0.4 μm.同时运用该方法对直径为0.3 mm、深110 mm的微深孔的圆柱度进行了测量. 【总页数】4页(106-109)
【关键词】微深孔;双光纤耦合;反向传输;高精度瞄准 【作者】崔继文;谭久彬;刘洋
【作者单位】哈尔滨工业大学,超精密光电仪器工程研究所,黑龙江,哈尔滨,150001;哈尔滨工业大学,超精密光电仪器工程研究所,黑龙江,哈尔滨,150001;哈尔滨工业大学,超精密光电仪器工程研究所,黑龙江,哈尔滨,150001 【正文语种】中文 【中图分类】TH741.8
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基于双光纤耦合的微深孔测量方法
