《数字电子技术》
实验报告
姓 名：***
班 级：****888 学 号：2014*******8 指导老师：****
编制时间： 2016.06.10
北京联合大学
实验一 基本集成逻辑门电路功能分析
一、实验目的
1．理解TTL和CMOS普通门电路的参数含义。 2．掌握TTL和CMOS普通门电路的使用方法。 3．掌握分析普通门电路逻辑功能的一般方法。 4．理解TTL和CMOS普通门电路参数的一般分析方法。 二、实验元器件
双四输入与非门 74LS00×1片 六反相器 74LS04×1片 电阻 300Ω×1只 三、实验内容
（一） TTL双四输入与非门74LS00功能分析
（1）逻辑功能分析
参考图1.1连接电路。一只74LS00芯片中含有四个相同的2输入与非门，可以随意选用，此处选用的是第一个门电路。检查电路无误时方可通电。
VCC5VJ2Key = AU1AJ1Key = B7400N+- 0.000U2AVDC 1MOhm
图1.1 与非门逻辑功能测试电路
变换单刀双掷开关J1和J2的状态，用直流电压表测试电路的输出电压，将测试结果记入表1.1中。
表1.1
输入 输出 U1/V 0 0 5 5 U2/V 0 5 0 5 实测值 5 5 5 0 逻辑值 5 5 5 0 （2）电压传输特性分析
依照图1.3编辑电路。在0～5V间逐步调整输入的直流电压，将随之变化的输出电压记入表1.2中。
U1AV21.8 V 7400N+-VSS 5.000U2VDC 1MOhm0V
图1.3 分析与非门电压传输特性仿真电路
表1.2
UI/V UO/V UI/V UO/V UI/V UO/V UI/V UO/V 5.0 4.8 0 0 3.8 3.6 0 0 2.6 2.4 0 5 1.4 1.2 5 5 4.6 4.4 4.2 4.0
0 0 0 0 3.4 3.2 3.0 2.8 0 0 0 0 2.2 2.0 1.8 1.6 5 5 5 5 1.0 0.8 0.4 0 5 5 5 5 实验二 组合逻辑电路分析与设计
一、实验目的
1．掌握SSI组合电路的基本设计方法。 2．掌握SSI组合电路的基本分析方法。 3．了解排除组合电路故障的一般方法。 二、实验元器件
四异或门 74LS86×1片 双四输入与非门 74LS00×1片 六反相器 74LS04×1片 电阻 300Ω×4只 发光二极管 4只 三、实验内容
（一） 分析“三个开关控制一盏灯”电路
根据图2.1所示的引脚接线图连接实验电路。74LS86中有四个异
或门，此处可随意选用其中的两个。为了便于连接实验电路，降低接线的错误率，图中标注了被选中门电路和芯片电源VCC、地线GND的引脚编号。发光二极管的导通压降一般有1.5～2V，导通电流可高于10mA，考虑到门电路的带载能力，在门电路与发光二极管间串入了一只300欧电阻，用于限压限流。
图2.1 “三个开关控制一盏灯”实验电路
转换开关A、B、C的位置，借助发光二极管的明暗状态，可以检测电路的逻辑功能。将测试结果记入自备的表格中。
A 开 开 开 关 开 关 B 开 开 关 开 关 开 C 开 关 开 开 关 关 二极管 亮 灭 灭 灭 亮 亮
数电实验报告
