光子计数X射线探测器

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利说明书

（21）申请号 CN201380043287.X （22）申请日 2013.07.15 （71）申请人 皇家飞利浦有限公司

地址 荷兰艾恩德霍芬

（10）申请公布号 CN104583806B

（43）申请公布日 2024.08.10

（72）发明人 E·勒斯尔;H·德尔;R·斯特德曼布克 （74）专利代理机构 永新专利商标代理有限公司

代理人 李光颖

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

光子计数X射线探测器

（57）摘要

本发明涉及一种用于探测入射X射线

光子(X)的方法和X射线探测器(100)。X射线探测器(100)包括至少一个传感器单元(105)以及至少一个通量传感器(104)，其中，在所述至少一个传感器单元中X射线光子(X)被转换成传感器信号(s)，所述至少一个通量传感器用于生成与光子(X)的通量相关的通量信号(f)。所述传感器信号(s)基于所述通量信号(f)被校正。在优选实施例中，所述传感器信号(s)表示谱分辨的脉冲计数。所述通量传感器(104)可以被集成到ASIC(103)

中，所述ASIC被耦合到所述传感器单元(105)。 法律状态

法律状态公告日

2015-04-29 2015-04-29 2015-09-09 2015-09-09 2024-08-10

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

法律状态

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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