西门子标准SN29500-1
版本：2005-12
ICS
31.020
关键字：故障率，元器件，期望值，可靠性
废止版本：2005-11
元器件失效率第一部分注释1预计值&概述&发行日期元器件失效率
期望值及概述
SN29500-1H1:2005-12历史版本：
1996-12，1997-01，1999-04，1999-11，2004-01，2004-06，2004-12，2005-01，2005-11修正案：
更新第10部分的发行时间。SN29500各部分发行时间见表1。
本标准任何部分的更新将导致表1和本注释的更新。
表1
部件失效率预计值，概述集成电路分离半导体无源器件
电气连接，电气连接器和插座取消；包含在第5和第12部分
继电器取消开关和按钮信号和指示灯接触器
光半导体信号接收器
发光二极管LED，红外二极管IRED和半导体激光器
光耦和光栅
部分号1234567891011121314版本发行时间2004-012004-122004-122004-032004-06-2005-11-2005-112005-121990-081994-031994-031994-03
如有疑问，以德语原文为准。
为了与国际电工委员会（IEC）和国际标准化组织（ISO）发布的标准中的现行惯例保持一致，十进制数字采用逗号隔开。
历史版本：
08.77；12.78；07.81；08.84；03.89；11.91；06.96。
修正案：
参考1996年6月的版本进行下列修订:
a）第4条第3款:本文已被1EC61709收录，并删减了部分内容。德文版本已作了相应的修改。
b）以SN29500-1H1(注释1)代替原表1。c）更新参考文献。d）编辑修改记录。说明：
在西门子集团的大力支持下，在集团代表的大力协作下，本标准中的失效率得以确定和应用。
本标准通过SN29500专家的评审。
1范围
随着客户对产品的可靠性计算的精度要求越来越高，需要提供可靠性计算的范例。失效率是设备部件或组件在频繁的应用中表现出的可靠性特征。
SN29500-1H1(注释1)中的表1列出的部件失效率是西门子可靠性预计的基础。
本标准以器件的应用失效率作为基础条件(参考条件)。当描述失效率或不同情况下的失效率数值进行比较时需描述其参考条件。参考条件的定义和基于应力的故障率转换模型均以IEC61709为依据。本标准基于应力模型得出参考条件与应用条件的失效率计算模型。
本部分仅为一般性说明，在应用中还需结合表1中列出的各个部分。注：
当前可应用的有效版本见表1。
2定义和术语
2.1环境温度环境温度是设备关键部件不工作时，关键部件的周围介质温度。
2.2平均环境温度平均环境温度是在类似的应用环境中设备的平均环境温度。一般是长时间温度的平均值。如图1描述了两种测试平均环境温度的实例。
a）测试点在两个部件中间
b）测试点在两个模块或PCB中间
图1测试平均环境温度举例
2.3参考条件本标准各个部分中所述期望值的参考条件，与所述组件的大多数应用一致。
2.4操作模式操作模式包括连续操作和间断操作，详述如下：连续周期：
?恒定负载情况下相对长时间工作，例如过程控制。?可变负载情况下相对长时间工作，例如电话交换设备。
?恒定最小负载及短时最大负载情况下相对长时间工作，例如火警系统。非连续周期：
?运行阶段具有恒定负载，例如过程控制。
?运行阶段具有可变负载，例如机械装置的控制单元、交通信号等。
SN29500-1中文翻译 元器件失效率期望值及概述
