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半导体PN结的物理特性及弱电流测量实验

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培训目的:

半导体PN结的物理特性及弱电流测量实验

【实验目的】

1.在室温时,测量PN结电流与电压关系,证明此关系符合指数分布规律。 2.在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数。

3.学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流。

4.测量PN结电压与温度的关系,求出该PN结温度传感器的灵敏度。 5.计算在0K温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度。

【实验原理】

1. PN结伏安特性及玻尔兹曼常数测量

由半导体物理学可知,PN结的正向电流-电压关系满足:

I?I0?exp(eU/kT)?1? (1)

式中I是通过PN结的正向电流,I0是反向饱和电流,在温度恒定是为常数,T是热力学温度,

e是电子的电荷量,U为PN结正向压降。由于在常温(300K)时,kT/e≈0.026v ,而PN结正向

压降约为十分之几伏,则exp(eU/kT)>>1,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有:

I?I0exp(eU/kT) (2)

也即PN结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN结I-U关系值,则利用(1)式可以求出e/kT。在测得温度T后,就可以得到e/k常数,把电子电量作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k。

在实际测量中,二极管的正向I-U关系虽然能较好满足指数关系,但求得的常数k往往偏小。这是因为通过二极管电流不只是扩散电流,还有其它电流。一般它包括三个部分:1)扩散电流,它严格遵循(2)式;2)耗尽层符合电流,它正比于exp(eU/2kT);3)表面电流,它是由硅和二氧化硅界面中杂质引起的,其值正比于exp(eU/mkT),一般m>2。因此,为了验证(2)式及求出准确的e/k常数,不宜采用硅二极管,而采用硅三极管接成共基极线路,因为此时集电极与基极短接,集电极电流中仅仅是扩散电流。复合电流主要在基极出现,测量集电极电流时,将不包括它。

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培训目的:

本实验中选取性能良好的硅三极管(TIP31型),实验中又处于较低的正向偏置,这样表面电流影响也完全可以忽略,所以此时集电极电流与结电压将满足(2)式。实验线路如图1所示。

1MeTIP31b723+15V6TIP31bce1.5V100ΩV1c-+LF35648765-15VV2LF3561234 图1 PN结扩散电源与结电压关系测量线路图

2.弱电流测量 过去实验中10?6A-10?11A量级弱电流采用光点反射式检流计测量,该仪器灵敏度较高约

10?9A/分度,但有许多不足之处,如十分怕震,挂丝易断;使用时稍有不慎,光标易偏出满度,瞬

间过载引起引丝疲劳变形产生不回零点及指示差变大。使用和维修极不方便。近年来,集成电路与数字化显示技术越来越普及。高输入阻抗运算放大器性能优良,价格低廉,用它组成电流-电压变换器测量弱电流信号,具有输入阻抗低,电流灵敏度高。温漂小、线性好、设计制作简单、结构牢靠等优点,因而被广泛应用于物理测量中。

Rf-+IsKoU0IsZrUi 图2 电流-电压变换器

LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图

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培训目的:

2所示。其中虚线框内电阻Zr为电流-电压变换器等效输入阻抗。由图2,运算放大器的输入电压U0为:

U0??K0Ui (3)

式(3)中Ui为输入电压,K0为运算放大器的开环电压增益,即图4中电阻Rf??时的电压增益,Rf称反馈电阻。因为理想运算放大器的输入阻抗ri??,所以信号源输入电流只流经反馈网络构成的通路。因而有:

IS?(Ui?U0)/Rr?Ui(1?K0)/Rf (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗Zr为

Zr?Ui/Is?Rf/(1?K0)?Rf/K0 (5) 由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流Iz输出电压U0之间得关系式,即: Is??U0(1?K0)/Rf??U0(1?1/K0)/Rf??U0/Rf (6) K由(6)式只要测得输出电压U0和已知Rf值,即可求得Is值。以高输入阻抗集成运算放大器

512LF356为例来讨论Zr和Is值的大小。对LF356运放的开环增益K0?2?10,输入阻抗ri?10?。

若取Rf为1.00M?,则由(5)式可得:

Zr?1.00?10?/(1?2?10)?5?

若选用四位半量程200mV数字电压表,它最后一位变化为0.01mV ,那么用上述电流-电压变换器能显示最小电流值为:

65(Is)min?0.01?10?3V/(1?106)?1?10?11A

由此说明,用集成运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流,具有输入阻抗小、灵敏度高的优点。

3.PN结的结电压Ube与热力学温度T关系测量。

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培训目的:

当PN结通过恒定小电流(通常电流I?1000?A),由半导体理论可得Ube与T近似关系:

Ube?ST?Ugo (5)

式中S≈-2.3mV/C为PN结温度传感器灵敏度。由Ugo可求出温度0K时半导体材料的近似禁带宽度Ego=qUgo。硅材料的Ego约为1.20eV。

【实验仪器】

1. 直流电源、数字电压表、温控仪组合装置(包括±15V直流电源、0-1.5V及3.0V直流电源、三位半数字电压表、四位半数字电压表、温控仪)。

2. TIP31型三极管(带三根引线)1个,3DG三极管1个。 3. 干井铜质恒温器(含加热器)及小电风扇各1个。

4. 配件:LF356运算放大器各2块,TIP31型三极管1只,引线9根;用户自配:ZX21型电阻箱1只。

【实验过程】

1.Ic?Ube关系测定,并进行曲线拟合求经验公式,计算玻尔兹曼常数。(Ube?U1) 1)实验线路如图1所示。图中U1为三位半数字电压表,U2为四位半数字电压表,TIP31型为带散热板的功率三极管,调节电压的分压器为多圈电位器,为保持PN结与周围环境一致,把TIP31型三极管浸没在盛有变压器油干井槽中,变压器油温度用铂电阻进行测量。

2)在室温情况下,测量三极管发射极与基极之间电压U1和相应电压U2。在常温下U1的值约从0.3V至0.42V范围每隔0.01V测一点数据,约测10多数据点,至U2值达到饱和时(U2值变化较小或基本不变),结束测量。在记数据开始和记数据结束都要同时记录变压器油的温度?,取温度平均值?。

3)改变干井恒温器温度,待PN结与油温湿度一致时,重复测量U1和U2的关系数据,并与室温测得的结果进行比较。

4)曲线拟合求经验公式:运用最小二乘法,将实验数据分别代入线性回归、指数回归、乘幂回

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o培训目的:

归这三种常用的基本函数(它们是物理学中最常用的基本函数),然后求出衡量各回归程序好坏的标准差?。对已测得的U1和U2各对数据,以U1为自变量,U2作因变量,分别代入:(1)线性函数

U2?aU1?b;(2)乘幂函数U2?aU1;(3)指数函数U2?aexp(bU1)。求出各函数相应的a和b值,得出三种函数式,究竟哪一种函数符合物理规律必须用标准差来检验。方法是:把实验测得的各个自变量U1分别代入三个基本函数,得到相应因变量的预期值U2,并由此求出各函数拟合的标准差:

?=

*b?(Ui?1ni?Ui*)2/n

*式中n为测量数据个数,Ui为实验测得的因变量,Ui为将自变量代入基本函数的因变量预期值,最后比较哪一种基本函数为标准差最小,说明该函数拟合得最好。

5)计算e/k常数,将电子的电量作为标准差代入,求出玻尔兹曼常数并与公认值进行比较。 2.Ube?T关系测定,求PN结温度传感器灵敏度S,计算硅材料0K时近似禁带宽度Ego值。

R1V1RTR2R43VV2RV2 图3 图4

1)实验线路如图3所示,测温电路如图4所示。其中数字电压表V2通过双刀双向开关,既作测温电桥指零用,又作监测PN结电流,保持电流I?100?A用。

2)通过调节图3电路中电源电压,使上电阻两端电压保持不变,即电流I?100?A。同时用电

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半导体PN结的物理特性及弱电流测量实验

培训目的:半导体PN结的物理特性及弱电流测量实验【实验目的】1.在室温时,测量PN结电流与电压关系,证明此关系符合指数分布规律。2.在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数。3.学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流。4.测量PN结电压与温度的关系,求出该PN结温度传感器的灵敏度。5.计算在0K温度时,半导
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