Vol.49No13工程与试验ENGINEERING&TESTSep.2009
X射线衍射技术在材料分析中的应用
田志宏1,张秀华1,田志广2
(1.中冶建筑研究总院有限公司建筑和结构研究中心,北京100088;
2.唐山港陆钢铁有限公司,河北唐山064200)
摘 要:X射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在众多领域的研究和生产中被广泛应用。介绍了
X射线衍射的基本原理,从物相鉴定、点阵参数测定、微观应力测定等几方面概述了X射线衍射技术在材料分析中
的应用进展。
关键词:X射线衍射技术;晶体结构;材料分析
中图分类号:O434119 文献标识码:B doi:1013969/j.issn.167423407.2009.03.011
ApplicationofX2rayDiffractionTechnologyinMaterialAnalysisTianZhihong1,ZhangXiuhua1,TianZhiguang2(1.CentralResearchInstituteofBuildingandConstruction,ChinaMetallurgicalGroupCorporation,Beijing100088,China;2.TangshanGangluIronSteelCorporationLimit,Tangshan064200,Hebei,China)
Abstract:X2raydiffractionanalysistechnologyiseffectiveformaterialanalysis,thusitiswidelyusedinvariousresearchandmanufacturefields.ThisarticleintroducedthebasicprincipleofX2raydiffraction,anddiscussedtheapplicationprogressofX2raydiffractiontechnologyinmaterialanalysis,whichincludesphaseidentification,determinationoflatticeparameteranddetermina2tionofmicrocosmicstressetc.
Keywords:X2raydiffractiontechnology;crystalstructure;materialanalysis
1 引 言
X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结
2 X射线衍射基本原理
X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本
构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。X射线的波长较短,大约在10-8～10-10cm之间。X射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管,在管子两极间加上高电压,阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,
[收稿日期] 2009-07-07[作者简介] 田志宏(1981-),男,河北人,工程师,研究方向:材料分析检测。
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No.32009 田志宏,等:X射线衍射技术在材料分析中的应用
不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样[1],这就是X射线衍射的基本原理。体物质在一定状态下都有一定的点阵参数。测定点阵参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵参数的测定是通过X射线衍射线位置的测定而获得的,通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。
吴建鹏等[8]采用X射线衍射技术测量了不同配比条件下Fe2O3和Cr2O3的固溶体的点阵参数,根据Vegard定律计算出固溶体中某相的固溶度,这种方法虽然存在一定的误差,但对于反映固溶度随工艺参数的变化趋势仍然是非常有效的。刘晓等[9]通过衍射技术计算出了低碳钢中马氏体的点阵常数,并建立了一个马氏体点阵参数随固溶碳量变化的新经验方程,他们根据试验数据所获得的回归方程可成为钢中α相(过饱和)含碳量的实用的标定办法(特别在低碳范围)。3.3 微观应力的测定3 X射线衍射技术在材料分析中的应用
由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花
样与物质内部的晶体结构有关。每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型,晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。同时,根据X射线衍射试验还可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。目前,X射线衍射技术已经广泛应用于各个领域的材料分析与研究工作中。3.1 物相鉴定
物相鉴定是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。每种晶体由于其独特的结构都具有与之相对应的X射线衍射特征谱,这是X射线衍射物相分析的依据。将待测样品的衍射图谱和各种已知单相标准物质的衍射图谱对比,从而确定物质的相组成。确定相组成后,根据各相衍射峰的强度正比于该组分含量(需要做吸收校正者除外),就可对各种组分进行定量分析。、外标
法[3]、增量法[4]、无标样法[5]和全谱拟合法[6]等常规分析方法。内标法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有的物
X射线衍射物相定量分析有内标法
[2]
微观应力是指由于形变、相变、多相物质的膨胀等因素引起的存在于材料内各晶粒之间或晶粒之中的微区应力。当一束X射线入射到具有微观应力的样品上时,由于微观区域应力取向不同,各晶粒的晶面间距产生了不同的应变,即在某些晶粒中晶面间距扩张,而在另一些晶粒中晶面间距压缩,结果使其衍射线并不像宏观内应力所影响的那样单一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,总的效应是导致衍射线漫散宽化。材料的微观残余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因,因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度一半处的宽度是描述微观残余应力的基本参数。钱桦等[10]在利用X射线衍射研究淬火65Mn钢回火残余应力时发现:半高宽的变化与回火时间、温度密切相关。与硬度变化规律相似,半高宽也是随着回火时间的延长和回火温度的升高呈现单调下降的趋势。因此,X射线衍射中半高宽-回火时间、温度曲线可以用
相较多,谱线复杂,再加入参考标相时会进一步增加
谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。无标样法和全谱拟合法虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测相物质制作工作曲线,这也给实际操作带来一定的不便。
吴建鹏等[7]制备了一定比例的SiO2和其他物质的混合物,然后分别采用内标法和外标法测量了混合物中SiO2的含量,并与混合物中SiO2初始配比进行对照,发现各个样品的测量结果和初始配比都是比较接近的,说明这两种测定方法是可以用于待测样品的物相定量分析的。3.2 点阵参数的测定
点阵参数是物质的基本结构参数,任何一种晶
于回火过程中残余应力消除情况的判定。3.4 纳米材料粒径的表征
纳米材料的颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。谢乐微晶尺度计算公式为:
D=
λ0189βHKLcosθ
(1)
其中λ为X射线波长β,HKL为衍射线半高峰宽处因晶粒细化引起的宽化度,测定过程中选取多条低角
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工程与试验 September2009
θ≤)X射线衍射线计算纳米粒子的平均粒径。度(250°
顾卓明等[11]采用谢乐法测定了纳米碳酸钙粒子和纳米稀土(主要为CeO2)粒子的平均粒径,测定结果为D??CaCO3=39.3nm,D??CeO2=11.0nm,另外他们采用透射电镜法测定两种粒子粒径的结果为D??CaCO3=40.2nm,D??CeO2=12.7nm,两种方法的测量结果比
织构信息,说明X射线衍射能谱仪在金属板材的织构
测定方面具有快速、高效的优点,在材料性能与织构及生产工艺相互关系研究方面有极大的应用价值。
4 结 语
综上所述,X射线衍射技术在材料分析领域有着十分广泛的应用,在无机材料、有机材料、钢铁冶金、纳米材料等研究领域中发挥越来越重要的作用。X射线衍射技术已经成为人们研究材料尤其是晶体材料最方便、最重要的手段。随着技术手段的不断创新和设备的不断完善升级,X射线衍射技术在材料分析领域必将拥有更广阔的应用前景。
较吻合,说明谢乐法测定纳米粒子粒径是可信的。3.5 结晶度的测定
结晶度是影响材料性能的重要参数。在一些情况下,物质结晶相和非晶相的衍射图谱往往会重叠。结晶度的测定主要是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积的比,在测定时必须把晶相、非晶相及背景不相干散射分离开来。基本公式为:
(2)Xc=Ic/(Ic+KIa)
式中:Xc—结晶度
Ic—晶相散射强度Ia—非晶相散射强度
K—单位质量样品中晶相与非晶相散射参考文献
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系数之比
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多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构,常见的织构有丝织构和板织构两种类型。为反映织构的概貌和确定织构指数,有三种方法描述织构:极图、反极图和三维取向函数,这三种方法适用于不同的情况。对于丝织构,要知道其极图形式,只要求出其丝轴指数即可,照相法和衍射仪法是可用的方法。板织构的极点分布比较复杂,需要两个指数来表示,且多用衍射仪进行测定。
宓小川[15]采用X射线能谱法测定了金属板材织构,分别获得了IF钢、冷轧电工钢、CuNi15Sn8合金的?42?
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