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TOFD速成班内部培训考试题
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一. 判断题(10题,20分)
1. 同A超一样,TOFD也是根据波幅当量大小来判断缺陷大小的。 ( ) 2. 衍射波的特点:波幅低,方向性强,端点越尖锐衍射特性越明显。 ( ) 3. TOFD检测时接收信号既有纵波又有横波。 ( ) 4. 扫查增量越小,图谱分辨率越高。 ( ) 5. TOFD检测时Z方向上分辨力始终保持一致。 ( ) 6. 一幅合格的TOFD图像包括直通波,底面反射波和一次底面转化波。 ( ) 7. 减小PCS可以提高近场分辨力。 ( ) 8. 一般情况下,设置PCS时,声束聚焦在板厚的1/3处,以保证图像的一致性。 ( ) 9. 直通波和底面波的时间间隔包含的信号周期数越多,深度分辨力就越低。 ( ) 10. 纵波声速大约是横波的两倍,所以检测时,主要是以测量纵波信号为主。 ( )
二. 选择题(10题,20分)
1. 以下哪个角度不是TOFD常用楔块角度? A. 38度 B. 45度 C. 60度 D. 70度
2. 以下关于TOFD技术的优点中,说法错误的是: A. 检出率比A超要高 B. 对焊缝的检测效率比A超高 C. 测量缺陷大小比A超精准 D. 对缺陷的定性比A超准确
3. 以下关于TOFD技术的局限性中,说法错误的是: A. 存在近表面盲区,影响近表面缺陷的检测 B. 横向缺陷检测比较困难 C. 点状缺陷尺寸不易测量 D. 只能对平板对接焊缝检测
4. 以下关于TOFD检测信号相位中,说法错误的是: A. 下表面开口缺陷相位与裂纹下端点衍射波相位相同 B. 直通波相位与底面反射波相位相反
C. 底面反射波相位与裂纹上端点衍射波相位相同 D. 上表面开口缺陷相位与底面反射波相位相反
5. 观察以下图像,评判正确的是: ( ) A. 左图中存在3个明显的缺陷:上表面开口缺陷,埋藏裂纹,下表面开口缺陷。
B. 左图中存在3个明显的缺陷:2个埋藏裂纹,下表面开口缺陷。 C. 左图中存在2个明显的缺陷:埋藏裂纹,下表面开口缺陷。 D. 左图中存在1个明显的缺陷:埋藏裂纹。
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6. 下面说法错误的是: ( ) A. A扫的原始含义是幅度调制显示方式,横坐标为时间轴,纵坐标为波幅轴
B. B扫的原始含义是亮度调制显示方式,指扫查方向与探头声束方向平行的扫查方式 C. C扫在无损探伤中指的是扫查方向与探头声束方向垂直的扫查方式。 D. 0.5毫米的扫查增量意味着两条A扫波形间距为0.5毫米。
7. 下面说法正确的是: ( ) A. 由于TOFD近场分辨力比较弱,所以通过增加脉冲周期数可以增强近场分辨力。 B. TOFD仪器检测时,可以利用直通波,底面反射波,平底孔或者工件晶粒噪声设置灵敏度。 C. 由于TOFD不依赖于波幅当量,所以增益一般设置在30db~50db左右
D. PXUT-900探伤时,在调校模式下,要想进入其他功能,必须先关闭调校模式。
8. 下面哪个不是减小近表面盲区的办法: ( A. 减小PCS B. 采用高频探头 C. 减小楔块角度 D. 使用短脉冲探头
9. 在使用TOFD扫查厚板时要进行分层扫查,下面说法错误的是: ( A. 板厚大于50mm时,一般需要分层扫查。 B. 扫查深度越深,所利用的探头频率越小。 C. 扫查深度越深,所使用的楔块角度越小。
D. 扫查分层时,两层之间的覆盖必须达到20mm。
10. 与通用A超相比,TOFD仪器的特点不包括以下哪一点: ( A. 记录数据量大 B. 模拟带宽大 C. 测量精度高 D. 垂直线性误差小
三. 简答题(5题,20分)
1. TOFD技术中对缺陷的分类包括哪几种?
2. 完整的TOFD仪器包括哪些部分?
3. TOFD扫描是如何行成图像的,标准的TOFD的图谱由哪几部分组成?
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4. 7M-Φ3-60°探头与5M-Φ6-60°相比,有哪些优点和缺点?
5. 探测150mm厚焊缝,分三个区进行扫查,选择的探头为:第一对探头7MΦ3mm60°,第二对探头5MΦ6mm60°,第三对探头2.5MΦ6mm 45°
(1)如果第一对探头聚焦在20mm,第二对探头聚焦在70mm,第三对探头聚焦在130mm,试计算各对探头的PCS=? (tan60=1.73 tan45=1)
(2)第一对探头衍射角度=40°的深度是多少?(tan40=0.84)
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