FEL64G交换结构的Alpha测试系统
束礼宝;宋克柱;程敬原;王砚方
【期刊名称】《数据采集与处理》 【年(卷),期】2003(018)002
【摘要】为了快速准确地验证FEL64G交换结构的逻辑功能,评估其交换性能,本文介绍了一种摈弃了传统的背板与插槽式结构,在单块印刷电路板上实现的交换结构测试系统.该系统利用大容量现场可编程门阵列(Field-programmable gate arrays,FPGA)实现随机数发生器,产生随机的激励信元使得完全从硬件上对交换结构的交换性能进行评估和测试成为了一种可行的方法;另外,由于采用了循环冗余校验(Cyclic redundancy code,CRC)进行误码率的测试,使得收发端间无需进行逐字比较,节省了大量用于存储激励信元的存储器.该系统的设计不但检验了FEL64G交换结构逻辑设计的正确性,而且实际所测的交换性能参数与事先的软件仿真结果吻合. 【总页数】5页(189-193)
【关键词】交换结构;测试系统;信元;现场可编程门阵列 【作者】束礼宝;宋克柱;程敬原;王砚方
【作者单位】中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027 【正文语种】中文
【中图分类】TP393.3;TN911.23 【相关文献】
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FEL64G交换结构的Alpha测试系统
