6集成逻辑门的功能测试实验分层次设计

6集成逻辑门的功能测试

6.1 实验目的

1）掌握基本TTL门电路、CMOS门电路的逻辑功能测试。 2）掌握基本门电路的控制作用。

3）掌握TTL、CMOS集成电路的使用特点。

6.2实验任务

一、 完成“与非”门、“或非”门的逻辑功能测试和门控制功能实验，应用逻辑门实现简单的组合逻辑电路。

（1）完成TTL“与非”门74LS00的逻辑功能及输入输出端电平的测试，将测试结果记录于表1中。

（2）完成CMOS“或非”门CD4001逻辑功能和门的控制功能测试，将逻辑功能测试结果记录于表1中，记录门控制功能实验的输入输出波形。

（3）用1片TTL“与非”门74LS00芯片实现“异或”运算，并进行逻辑功能测试，将测试A?B?AB?A?AB?B结果记录于表1中。用“与非”门实现“异或”运算的逻辑表达式为： ，

逻辑电路图如图1所示。

表1 门电路逻辑功能及“与非”门输入输出电平测试实验结果 逻辑关系测试结果 A 0 0 1 1

图1 用“与非”门实现“异或”运算的电路图

二、用1片CD4001和1片74LS00验证摩根定律的正确性： AB?A?B。

B 0 1 0 1 AB 输入输出电平测试结果 A?B A?B A端电平值（V） B端电平值（V） 端电平值AB（V） 提示：利用指定的芯片搭建两个电路，分别实现上述公式两边的表达式逻辑功能；然后给这两个电路同时输入相同的任意逻辑值，观测其输出值是否相同，若相同则验证了上述公式的正确性。其中，右边的表达式需要适当的推导变换。

6.3 各层次实验内容

实验层次 实验内容

B级 实验任务一 A级 实验任务一、二