硅纳米线的表征、性能及应用
裴立宅;唐元洪;陈扬文;郭池;张勇
【期刊名称】《功能材料》 【年(卷),期】2004(035)0z1
【摘要】硅纳米线是近年来发展起来的一种新型的纳米半导体材料.电镜、X射线光电子能谱(XPS)、拉曼光谱、近边X射线吸收精细结构光谱(NEXAFS)、能量色散X射线分析(EDS)等方法是表征硅纳米线的有效手段,由于硅纳米线具有特殊的光致发光、场发射、电子输运等性能,可以实现在纳米传感器等多种纳米电子器件及合成其它纳米材料的模板方面的应用.本文综述了硅纳米线的表征、性能及应用的最新进展. 【总页数】6页(2830-2835)
【关键词】硅纳米线;掺杂;表征;性能;应用 【作者】裴立宅;唐元洪;陈扬文;郭池;张勇
【作者单位】湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082 【正文语种】中文
【中图分类】TN304.1;TN305.3 【相关文献】
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硅纳米线的表征、性能及应用
