1）表面粗糙度补偿
在检验和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的能量损耗进行补偿。 2）衰减补偿
在检验和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检验灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。 3）曲面补偿
对于探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近（0.9~1.5）的参考试块，对比进行曲率补偿。 6.6校准
校准应在基准试块上进行，校准中使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。 6.6.1仪器校准
在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性进行测定，测定方法按JB/T 10061的规定进行。在使用过程中，每隔三个月至少应对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定。 6.6.2探头校准
在探头开始使用时，应对探头进行一次全面的性能校准。测定方法应按JB/T 10062的有关规定进行。 6.6.2.1斜探头校准
使用前，斜探头至少应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等的校准。使用过程中，每个工作日应校准前沿距离、K值和主声束偏离。 6.6.2.2直探头校准
直探头的始脉冲占宽、灵敏度余量和分辨力应每隔一个月检查一次。 6.6.3仪器和探头系统的复核 6.6.3.1复核时机
每次检验前均应对扫描线、灵敏度进行复核，遇有下述情况应随时对其进行重新核查： 1）校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时； 2）开路电压波动或者检验者怀疑灵敏度有变化时； 3）连续工作4小时以上时； 4）工作结束时。 6.6.3.2扫描量程的复核
如果距离——波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%，则扫描量程应予以修正，并在检验记录中加以标明。 6.6.3.3距离——波幅曲线的复核
复核时，校核应不少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次复核以来所有的检验结果进行复检；如幅度上升2dB，则应对上一次复核以来所有的记录信号进行重新评定。
6.6.4注意事项
校准、复核和线性校验时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。 7. 试块
7.1试块应采用与被检工件相同或声学性能近似的材料制成。该材料用直探头检验时，不得有大于Φ2mm平底孔当量直径的缺陷。
7.2校准用反射体可采用长横孔、短横孔、横通孔、平底孔、线切割槽和V型槽等。校准时，探头主声束应与反射体的反射面相垂直。
7.3试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到两种或两种以上不同厚度的部件进行熔焊时，试块的厚度应由其平均厚度来确定。 7.4试块的制造要求应符合JB/T 10063和JB 4126的规定。
7.5现场检验时，为校验灵敏度和时基线性，也可以采用其它型式的等效试块。
7.6采用的标准试块为CSK-I A，CSK-II A、CSK-III A、CSK-IV A和曲面平底孔试块。其中曲面平底孔试块是用于直探头探测曲面受检件的对比试块。其形状和尺寸应分别符合图2、图3、图4、图5、图6和表1的规定。
12511095其余3.230K2.0K2.5K3.0R11006.335.51ΦR102K1.0K1.5105140φ50φ44φ4015200625231513300有机玻璃5910065R50 图2 CSK-I A试块
7.7 CSK-I A、CSK-II A和CSK-III A试块适用壁厚范围为8~120mm的焊缝，CSK-I A和CSK-IV A系列试块适用壁厚范围大于120~300mm的焊缝。在满足灵敏度要求时，也可采用其它型式的等效试块，见钢制对接焊缝超声波检验工艺规程（SENSE/TGY2-2002）的附录A。
7.8检测曲面工件时，如检测面曲面半径R小于等于W2/4时（W为探头接触面宽度，环缝检验时为探头宽度，纵缝检验时为探头长度），应采用与检测面曲率相同的对比试块，反射孔的位置可参照对比试块确定。试块应满足：
b≥2λS/D0
式中：b——试块宽度，mm；
λ——声波波长，mm； Ｓ——声程，mm；
Ｄ０——声源有效直径，mm。
其余3.24060TΦ26.340l6.3L 图3 CSK-II A试块
L——试块长度，由使用的声程确定； T——试块厚度，由被检材料厚度确定；
论大口径管座角焊缝超声波检验工艺规程(doc 12页)
