退火温度对(Bi0.8La0.2)2Ti2O7薄膜物理和电学性质的影
响
杨雪娜;黄柏标;尚淑霞
【期刊名称】《功能材料》 【年(卷),期】2004(035)0z1
【摘要】采用化学溶液沉积法,在Si[100]衬底上制备了掺La的(Bi0.8La0.2)2Ti2O7薄膜,研究了退火温度对薄膜结晶性及电学性能的影响.研究发现,随着退火温度的升高,样品的结晶性越来越好;漏电流密度随之降低,表明绝缘性逐渐增强.实验证明该薄膜具有良好的绝缘性和较高的介电常数. 【总页数】3页(1439-1441)
【关键词】薄膜;退火温度;X射线衍射;电学性质 【作者】杨雪娜;黄柏标;尚淑霞
【作者单位】山东大学,晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100;山东大学,晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100;山东大学,环境工程与科学学院,山东,济南,250100 【正文语种】中文 【中图分类】O484.42 【相关文献】
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退火温度对(Bi0.8La0.2)2Ti2O7薄膜物理和电学性质的影响
