超声波探伤检验用标准试块JIS Z 2345-2000序 本标准于1987年制定，1994年重新进行了修订。2000年又根据相应的国际标准（ISO 2400：1972，钢焊缝-超声波检验设备校验用对比试块）进行了进一步的整合和修订，在此基础上重新编制了本标准。主要修订之处如下所示：a）为了使A1型标准试块和ISO 2400标准对比试块的要求吻合，对原标准的A1型试块的热处理条件和检验方法（检验项目及检验条件）进行了修订； b）在A3型系列试块中新增加了STB-A32型试块；c）对所有标准试块的表面粗糙度和尺寸允许公差的标记方法进行了变更。1 适用范围 本标准规定了超声波探伤检验装置的校准、调整及探伤灵敏度调整用标准试块的有关要求。备注1：ISO 2400:1972 钢焊缝用超声波检验设备校验用对比试块 2：ISO 7963:1986 钢焊缝 超声波检验用No. 2对比试块2 引用标准以下引用文件经本标准的引用即成为本标准的一部分。引用标准中凡是不带发行年号的均可使用其最新版本（含追加版本）。JIS G 3106 焊接结构用轧材JIS G 4103 镍、铬、钼钢钢材JIS G 4805 高铬碳钢轴承钢钢材JIS K 2238 机油JIS Z 2300 无损检验术语3 定义本标准所使用的主要术语除了按JIS Z 2300 标准的解释之外，还规定如下：a）A2型系列标准试块A2型系列标准试块为用于探伤灵敏度调整、超声波探伤仪（以下简称探伤仪）综合性能测定的STB-A2，STB-A21和STB-A22三种标准试块的总称，简称为A2型系列STB试块。b）A3型标准试块A3型系列标准试块为用于探伤灵敏度调整、探伤范围调整和斜探头折射角测定的STB-A3，STB-A31和STB-A32及STB-A7963四种标准试块的总称，简称为A3型系 406JIS Z 2345-2000
列STB试块。
4 标准试块的种类及分类符号
标准试块的种类和分类符号如表1所示。
表 1 标准试块的种类及分类符号
标准试块种类G型标准试块（G型STB）
分类符号STB-G V2STB-G V3STB-G V5STB-G V8STB-G V15-1STB-G V15-1.4STB-G V15-2STB-G V15-2.8STB-G V15-4STB-G V15-5.6
N1型标准试块A1型标准试块
STB-N1STB-A1
垂直及斜角
厚板焊缝及管材
探伤灵敏度的调整斜探头特性的测定、斜探头入射点及折射角的测定、测定范围调整、探伤灵敏度的调整
A2型系列标准试块
STB-A2STB-A21STB-A22
A3型系列标准试块
STB-A3STB-A31STB-A32STB-A7963
焊缝
斜探头入射点及折射角的测定、测定范围调整、探伤灵敏度的调整
斜角
焊缝及管材
探伤灵敏度的调整、探伤仪综合性能的测定
探伤方法垂直法
探伤对象例超厚板、条钢及锻件
主要使用目的（参考）探伤灵敏度的调整、直探头特性的测定、探伤仪综合性能的测定
5 材料
5.1 材料
各标准试块所采用的材料分别如表2所示。
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JIS Z 2345-2000
表2 标准试块所用材料
标准试块的种类G型STB
材料标准
标准号JIS G 4805JIS G 4103
分类符号SUJ 2SNCM 439
热处理
球化退火
淬火回火（850℃1h 油冷，650℃2h 空冷）
N1型STBA1型STB
JIS G 3106
SM400、SM490或机械结构用中碳钢镇静钢）
A2型系列STBA3型系列STB
JIS G 3106
SM490或机械结构级以上的镇静钢）
正火或淬火回火（标准要℃）
正火或淬火回火（标准要应无会造成产生超声波传求为750~810℃水冷、650播特性异常的声学特性差
其他
应无会造成产生超声波传播特性异常的残余应力
（晶粒度5级以上的℃空冷）?
用中碳钢（晶粒度5求为750~810℃水冷、650
备注：STB-A1试块的50mm孔中埋入的合成树脂为异丁烯树脂，在常温下穿透23mm厚材料的纵波传播时间几乎相当于穿透50mm软钢（低碳钢）的纵波传播时间。
5.2 材料检查
根据标准试块种类，材料的超声波探伤检验分别如表3所示。
表3 材料检查
标准试块的种类
G型STB
材料检查
1）频率为5MHz时，材料的纵波的衰减系数为5dB/m以下；频率为10MHz时，衰减系数为20dB/mm以下；
2）在用水浸法探伤时，用频率为5MHz、公称直径为20mm的探头从相邻的两个侧面对试块进行全面垂直探伤，应无超过STB-G V2回波高度1/4（－12dB）的缺陷回波存在。
N1型STBA1型STB
在用局部水浸法探伤时，用频率为5MHz、公称直径20mm的探头从黑皮状态的试块的一面对整个试块进行垂直探伤，应无超过STB-G V2回波高度的1/4（－12dB）的缺陷回波。
A2型系列STBA3型系列STB
在用局部水浸法探伤时，用频率为5MHz、公称直径20mm的探头从黑皮状态的试块的一面对整个试块进行垂直探伤，应无超过STB-G V2回波高度的1/4（－12dB）的缺陷回波。
6 形状及尺寸
各标准试块的形状及尺寸如图1~10所示。标准试块的外观检查应符合以下要求。
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JIS Z 2345-2000
a）表面粗糙度检查用粗糙度对比试块进行；
b） 刻度线的精度检查用雕刻模板和制作的试块进行，刻度线的位置精度要求应为 ±0.15mm，刻度线的长度的精度要求为±0.5mm。7 超声波探伤检定
7.1 检定用装置
对不同种类的标准试块，分别采用表4所示的装置进行检定。
表 4 检定装置
标准试块的种类或分类符号
检定装置类别
A2型系列STB
G型STB
N1型STBA1型STB
STB-A2
STB-A21STB-A22
A3型系列STB
探伤仪
种类晶片材料频率
探头
MHz晶片尺寸mm折射角
应采用具有频率切换功能的探伤仪，并且必须包括所需的频率范围直探头
（2）
水浸探头
石英或陶瓷
斜探头
陶瓷
2 或 2.25
（3）
5Φ20
10Φ20或Φ14
55
2或2.25及510×10
45及70机油
55
Φ28Φ2010×1070
70
耦合剂
（1）
机油水
探头稳定压块检定用标准块
为了保持检定的精度，给予适当接触压力的压块（除STB-N1之外）
从STB-N1从STB-A1
从STB-G中选出的试块
中选出的试块
中选出的试块
从STB-A2中选出的试
块
（4）
100mm；
注（1）：机油应符合JIS K 2238和ISO VG10的要求。在耦合剂为水时，水耦合层应为50mm~注（2）：晶片的形状所决定的近场区长度应小于反射源的声程；注（3）：V2及V3不得使用2MHz或2.25MHz的频率测定；
STB-A32及 STB-A7963中选注（4）： STB-A1应从明确了和STB-A2关系的STB-A3 、STB-A31、 取试块。
7.2 检定条件及检定方法
根据不同的种类，将各标准试块的检定条件及检定方法分为表5和表6所示的类型。
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JIS Z 2345-2000
表5 检定条件及检定方法
标准试块的种类及分类符号
检定条件及检定项目
G型STB
N1型STB
A1型STB
A2型系列STBSTB-A2
STB-A21STB-A22
（6）
A3型系列
（5）
STB
反射源频率MHz灵敏度
抑制灵敏度
人工缺陷
2或2.25，5及10
R100面人工缺陷
R50面或R100面及人工缺陷
552或2.25及555
“0”或“OFF”
应将检定试块的人工缺陷或从反射面的回波高度调至刻度板的80%
将试块和检定用标准试块的回波高度进行比较测定
在折射角45°时2跨距和
对于Φ4×4的孔，在折射角时得到的位置
测定方法
用斜角法测定人工缺陷回波高度时探头的位置
——
折射角70°时1跨距的情
的位置
况下得到的最大回波高度70°、0.5跨距
入射点测定位置折射角刻度测定次数读数单位
——
按表6—
——
按表6
对试块和检定用试块分别测定2次
1）回波高度的读数单位为0.1dB；2）入射点测定位置的读数单位为0.2mm；3）折射角刻度的读数单位为0.2°。
回波高度
在需要再测定时的2次测定之差
入射点的测定位置折射角刻度
＞0.5dB——
—＞0.5mm—
＞0.5dB
Φ4×4的孔时＞0.5dB＞0.5mm
—＞0.4°
注（5）：STB-A7963的情况下，只在入射点位置进行检定； （6）：应对Φ2×2，Φ4×4及Φ1.5的通孔进行检定。
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JIS Z 中文版 超声波探伤检验用标准试块
